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讨论活动主题﹕利用START工具实现用户自定义之记忆体测试方式

活动 提要
现今各种电子产品功能日趋复杂，系统晶片设计需要更多的记忆体，而系统晶片设计厂商也正面临着产品对成本与节能等各方面的需求。芯测科技的核心技术在于特有的可程式化暨管线式架构记忆体测试技术与特有架构的记忆体修复技术，并且透过各项专利加以保护，能够和客户紧密合作与提供技术支援，以便协助客户完成高品质设计，增加产品竞争力。 【大纲】 -iSTART-TEK芯测科技与公司愿景 -利用自定义演算法以满足特殊测试需求 -Programmable algorithm 功能应用介绍 -结论 【费用】免费 本活动采线上报名，报名者经主办单位审核通过后，主办单位会以电子邮件确认报名成功

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