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討論新聞主題﹕是德科技發表WaferPro Express 2015量測軟體平台

新聞 提要
是德科技（Keysight）日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台，以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統（包含儀器和晶圓探測器）中，有效地控制所有元件，以便降低量測配置的複雜性，並提供結合自動量測和資料管理的統一平台。 高容量的晶圓級測試系統已不再是半導體晶圓代工廠的專利。今天，許多研發團隊都需要在各種不同溫度下量測大量的資料，以便因應元件建模、流程監控，可靠性和元件特性分析等應用的要求。而自動化晶圓探測器已成了元件研發量測實驗室的標準配備。 WaferPro Express 2015的一項重大突破是，它與Cascade Microtech的Velox 2.0探針台控制軟體進行了獨家整合

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