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討論活動主題﹕【日本專家】藉由AI深度學習提升自動光學檢查設備辨識能力

活動 提要
隨著全世界發展，當前產業被迫面臨的棘手課題是，產品已從過去同規格的大量生產，轉向「少量多樣」與「多量多樣」特色模式。唯有透過智能化辨識技術，結合全方位系統觀的自動化與智慧製造規劃，才能設計改善產線製程、品質、監控與回溯問題。但在部分在極高良率的要求下，AOI設備容易因敏感而出現過篩現象，因此產業在需要更智慧化的檢測系統條件下，開始應用AI技術來輔助AOI設備進行後續篩檢的優化，透過視覺辨識技術輔助AOI檢測的後續優化，以提高檢測設備的辨識正確率。 【報名日期】即日起至2020年4月8日止 【報名費用】原價4,500元/人(費用請勿另扣除郵資及匯兌手續費) 【課程優惠】 1 同公司2人以上同行享每人NT$3,500元 2.TEEIA會員享每人NT$3,000元

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