<
帳號:
密碼:

討論文章主題﹕利用長期服務方案延長測試系統的生命週期

文章 提要
精心設計的電子測試系統可確保高品質的測試結果,並且大幅提高測試速率。但隨著專案時間的推移,其測試結果會開始偏移,進而影響到專案品質;而測試設備停機時間則會導致代價高昂的專案延遲。ESP解決方案是完整的儀器生命週期解決方案的一部分。這些解決方案可滿足橫跨客戶各個產品生命週期的服務需求。

發表新主題
主題:
文章內容:
  確認碼:  
  一般討論區
一般討論區
新聞報導論壇
活動消息論壇
專欄評析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章論述論壇
軟體應用論壇
產品應用論壇
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技術應用區
電子技術類:
電腦科技類:
網際科技類:
軟體資源類:
 
刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw