是德推出800G測試解決方案 啟動100Gb/s收發器驗證 (2020.12.21)
網路連接與安全技術廠商是德科技（Keysight Technologies Inc.）宣布推出全新800G測試解決方案，包括首款100Gb/s發射器和接收器先期符合性測試解決方案，協助驗證電子和光學介面，進而加速下一代資料中心技術研發。 現…
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是德於OFC 2018中展示最新的光學、光子測試解決方案 (2018.03.20)
是德科技（Keysight）於 3 月 13 日至 15 日在美國聖地牙哥會議中心舉行的OFC 2018光纖通訊展中，展出旗下最新的光學和光子測試解決方案。 是德科技展示了資料中心400G/PAM4傳輸、同調測試，及光學元件特性分析等解決方…
安捷倫推出新的寬頻示波器 (2010.06.25)
安捷倫科技（Agilent）於週一（6/21）宣佈，推出新款Agilent 86100D DCA-X寬頻示波器，進一步擴充旗下數位通訊分析儀的產品陣容。新款產品強調可為工程師提供輕易且準確地，對高速數位設計進行特性描述所需的工具。 DCA-…
安捷倫針對示波器推遠端存取軟體和去嵌入工具組 (2010.06.23)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，針對Agilent 86100C/D DCA（數位通訊分析儀）系列寬頻示波器，推出了適用的N1010A FlexDCA遠端存取軟體和N1010A-SIM InfiniiSim-DCA波形轉換工具組。該…
安捷倫推新一代儲存及電信元件與系統測試方案 (2009.05.14)
安捷倫科技（Agilent）針對新一代儲存及電信元件與系統的測試，推出三款新的量測解決方案。這些新的解決方案是以現有的Agilent 86100C數位通訊分析儀（DCA）為基礎。這些工具可以讓工程師，輕易地虛擬他們最新的元件和系統設計，並且…
安捷倫針對光收發器商推出新測試解決方案 (2009.05.07)
安捷倫發表新款PXIT 10G數位通訊分析儀(DCA)、被動式光纖網路(PON)濾波器(filter rate)選項，以及PXIT N2100B DCA的智慧型後處理功能，可協助光收發器廠商降低測試成本。 新增上述產品與功能後，安捷倫PXI…
安捷倫於OFC/NFOEC 2009展示光學測試解決方案 (2009.04.16)
安捷倫科技（Agilent）於OFC/NFOEC中展示首款適用於40到100G裝置測試的光學調變分析儀、具PON濾波器速率的PXIT 10G DCA、獨特的智慧型後處理技術、以及可對光學元件和信號進行特性描述與分析的光通訊應用軟體套件。 此…
安捷倫針對光收發器測試需求推出新款PXIT模組 (2007.08.14)
安捷倫科技Agilent Technologies針對optical transceiver（光收發器）的生產測試需求，推出四款新一代的PXIT模組。PXIT系列結合了誤碼率測試儀（BERT）和數位通訊分析儀（DCA）的功能，在生產測試界獨…
安捷倫可完整提供HDMI CTS 1.3b測試解決方案 (2007.07.13)
安捷倫科技（Agilent Technologies）宣佈，已將HDMI 1.3b相容性測試解決方案送交全球五家HDMI授權測試中心。此外，安捷倫科技已可以將完整的HDMI相容性測試解決方案大量出貨給客戶，一般正常交貨期為六週。修訂過的HD…
安捷倫推出數位通訊分析儀用相位雜訊分析軟體 (2007.02.12)
安捷倫(Agilent)發表數位通訊分析儀(DCA-J)用相位雜訊應用軟體與選項。新軟體可就50 M～13.5 Gbti/s的動態範圍內之時脈和資料訊號，執行相位雜訊/頻譜抖動分析，新款Agilent 83496B光學/電子模組可提供光學發…
安捷倫光學模組可測試業界最廣泛的電信/數據傳輸波長與傳輸速率 (2004.11.03)
安捷倫科技（Agilent Technologies）推出一款Agilent 86100C Infiniium數位通訊分析儀（DCA-J）適用的寬波長、多重速率光學模組。對光學元件與設備製造商來說，這是第一次只要使用單一插入式模組，就能對各…
安捷倫四合一數位通訊分析儀－－首創「One Button Solution」 (2004.01.05)
由於晶片及電腦匯流排間移動龐大資料的需求，使得硬體結構和軟體協定也須有所因應變化。隨著標準的資料速率由MHz提升到GHz，信號干擾的問題也從平行結構變成了串列結構，因此，因通道效應的關係，在信號抖動和振幅衰減上，亦將引起設計與測試工程師面臨新的挑戰。…
光收發器自動化測試系統架構要領 (2002.10.05)
在光纖通訊系統中，所有網路傳輸必須轉換成光信號的資料或是需要將接收的光訊號轉回電子型態，都要利用光收發器來完成。然而，光收發器測試自動化系統說來容易，實際上建構起來複雜，任一環節出現錯誤或偏差，都會造成測試誤差，影響產品品質。…