突破二維半導體檢測關鍵 臺灣發表臨場剖面掃描顯微檢測技術
臺灣大學物理學系邱雅萍教授團隊,昨日在國科會舉行記者會,發展其首創「臨場剖面掃描顯微半導體檢測技術」。該技術與師範大學物理學系藍彥文教授、林文欽教授,及新加坡國立大學李連忠教授合作…
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隨著智慧設備的射頻(RF)設計複雜性日益增加,傳統無線解決方案通常需要多晶片組合才能新增功能,或頻繁重新設計才能滿足不斷升級的行業標準…
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活動地點:台北數位產業園區A棟2樓204室(臺北市大同區承德路三段287號|捷運圓山站步行約7分鐘)
活動時間:2026年07月24日 (五)14:00~15:00