NI：邁向更開放的智慧型半導體測試 (2016.09.09)
身為平台式系統供應商，NI（國家儀器）不斷致力於協助工程師與科學家，解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求，NI也藉由於2016 Semicon Taiwan的機會，祭出三…
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NI 發表高精度PXI電源量測單元 (2016.08.05)
NI 國家儀器於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供 10 fA 的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、測試輸出率，工程師可使用 NI PXIe-41…
NI發表高精度PXI電源量測單元 (2016.07.25)
NI 國家儀器於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供10 fA的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、測試輸出率，工程師可使用 NI PXIe-4135…
NI舉辦2016自動化測試與量測技術研討會 (2016.07.25)
NI國家儀器近日於台南、新竹、台北分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會，透過系列講座與實機展示，剖析自動化測試與量測的最新趨勢、分享PXI平台如何協助客戶進入物聯網時代及提供有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)的解決…
力晶選用Agilent測試系統執行晶圓參數測試 (2006.06.05)
安捷倫（Agilent）宣佈，力晶半導體12M新廠決定採用Agilent 4070系列之高精密參數測試系統，以執行產品之晶圓參數測試Wafer Acceptance Test(WAT)。 安捷倫科技之Agilent 4070系列提供了卓越品…