西門子與台積電合作 助客戶實現IC最佳化設計 (2023.10.12)
西門子數位化工業軟體宣佈與台積電深化合作，展開一系列新技術認證與協作，多項西門子 EDA 產品成功獲得台積電的最新製程技術認證。 台積電設計基礎架構管理部門負責人 Dan Kochpatcharin 表示：「台積電與包括西門子在地的設計生態…
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西門子提供EDA多項解決方案 通過台積電最新製程認證 (2023.05.10)
身為台積電的長期合作夥伴，西門子數位化工業軟體日前在台積電2023 年北美技術研討會上公布一系列最新認證，展現雙方協力合作的關鍵成果，將進一步實現西門子EDA技術針對台積電最新製程的全面支援。 其中，西門子EDA領先的IC sign-off…
西門子加入英特爾晶圓代工服務EDA聯盟 提供IC設計方案 (2022.02.22)
西門子數位化工業軟體近日宣布，加入成為英特爾晶圓代工服務（IFS）加速計劃中的EDA聯盟特許成員。英特爾的IFS計劃旨在建立完備的生態系統，基於IFS先進的製程技術，為新一代系統單晶片（SoC）提供設計與製造支援。 此計劃可促進IFS與其生…
西門子與台積電深化合作 3D IC認證設計達成關鍵里程 (2021.11.04)
西門子數位化工業軟體，日前在台積電 2021開放創新平台 (OIP) 生態系統論壇中宣布，與台積電合作帶來一系列的新產品認證，雙方在雲端支援 IC 設計，以及台積電的全系列 3D 矽晶堆疊與先進封裝技術（3Dfabric）方面，已經達成關鍵…
使用可靠的隔離式ADC有效控制三相感應馬達 (2021.04.07)
本文探討在達到精密AC馬達控制時所衍生的相關問題，並說明為何隔離式類比回授是這種應用的良好選擇。…
提升取樣率 為示波器訊號品質把關 (2020.02.11)
取樣是將輸入訊號轉換成離散電氣值，以進行處理或顯示的過程。示波器的取樣率越高，波形解析度也越高，並顯示出更清楚的細節。因此取樣率的品質，將可以很明顯代表出一部示波器的性能優劣。…
實踐投資亞太承諾 NI結盟蔚華科技打造半導體量測新紀元 (2019.09.11)
國家儀器（NI）聯手蔚華科技舉辦雙方結盟記者會，由NI國家儀器台灣區總經理林沛彥與蔚華科技總經理高瀚宇共同出席，說明雙方今年5月的重大結盟。未來NI將持續借助蔚華完善的經銷服務體系和應用工程技術，為大中華與台灣客戶提供客製化解決方案與即時的…
RF特性提升ATE測試難度 PXI架構提供更具彈性選擇 (2019.09.10)
傳統上，大部分的RF與混合式訊號IC的測試，都是在生產環境中透過自動化測試設備（ATE）來進行，或是在特性測試實驗室中透過機架堆疊式箱型儀器而完成的。典型的機架堆疊式箱型儀器可提供高品質的實驗室等級量測結果，但是缺點是容量有限，不僅無法處理…
示波器探測執行效能最佳化的8大秘訣 (2019.04.12)
探棒通常是示波器測量鏈中的第一環。性能不足將導致訊號失真。選擇恰當的探棒是執行可靠測量的第一步。而如何使用探棒，也會影響獲得有用的測量結果。…
為訊號完整性把關 示波器迎接棘手測試挑戰 (2019.02.27)
對示波器來說，準確重建波形的能力是關鍵，示波器可捕獲訊號影像，然後可以觀察和解釋訊號影像。而不同的系統和功能結合，也會影響其提供最高訊號完整性的能力。…
為訊號完整性把關 示波器迎接棘手測試挑戰 (2019.01.14)
對示波器來說，準確重建波形的能力是關鍵，這種能力稱為訊號完整性。示波器可捕獲訊號影像，然後可以觀察和解釋訊號影像。…
高速數位訊號測試的關鍵一步 (2018.07.10)
在數位系統研發工程中，訊號完整性測試是至關重要的一步。系統中任何故障隔離和消除都是工程師的責任，具有高頻寬效能和高效率的儀器能夠準確解決高速訊號的異常。…
D3 Semiconductor與貿澤電子簽署全球分銷協定 (2017.06.20)
D3 Semiconductor宣佈貿澤電子 (Mouser Electronics) 現已成為其全球分銷合作夥伴。根據協定，貿澤電子目前儲備 D3 Semiconductor 的完整 650 伏額定電壓超結金屬氧化物半導體場效應電晶體(M…
選擇對的示波器 讓測試事半功倍吧 (2017.05.22)
示波器種類繁多，規格各異，價格也不盡相同。對工程師來說，選擇一台合適的示波器並不容易。正確考慮各種因素，才能讓測試事半功倍。…
NI VirtualBench多合一儀器提升示波器與函式產生器性能 (2017.02.17)
NI國家儀器於近日發表 VirtualBench 更高效能的全新機箱：VB-8054 儀器。VirtualBench 多合一儀器可在單一裝置內整合五種儀器，且各個儀器的效能皆不受影響，同時可以降低測試與量測系統的成本與體積。VirtualB…
NI將於Semicon Taiwan展出智能型開放式ATE自動化測試設備 (2016.09.07)
在充滿智慧裝置的物聯網時代，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。NI國家儀器於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間，展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統 …
功能攀升 示波器以更強大姿態面世 (2016.08.29)
示波器不再只是時域測量工具，它已能夠進行頻域測量，因此能滿足LTE和WLAN等系統的信號驗證和調試需求。透過軟體定義儀器功能，更可進行客制化量測。…
NI推出強化版半導體測試管理軟體 (2016.04.01)
NI 國家儀器（National Instruments；NI）作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，推出TestStand半導體模組（TestStand Semiconductor Module），為測…
NI 推出強化版半導體測試管理軟體 (2016.03.31)
國家儀器（National Instruments；NI）作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，推出 TestStand 半導體模組 （TestStand Semiconductor Module），為測…
NI發表VirtualBench多合一儀器進階版 (2016.02.17)
協助工程師與科學家解決全球最艱鉅工程挑戰的平台式系統供應商 NI 國家儀器，推出新款 VirtualBench 高效能機型。 軟體架構的 VirtualBench 多合一儀器，結合了混合式訊號示波器、函式產生器、多功能數位電表、可程式化 D…