深耕40年的晶圓廠量測與檢測:重大里程碑和未來發展 (2026.08.11)
imec的量測專家將在本文帶領讀者探索深耕40年的晶圓廠量測與檢測技術,瞭解圖形化和元件創新歷史的四大時期,同時提供imec的前瞻量測發展藍圖,其發展動力與多項重大挑戰相關,包含尺寸微縮和3D技術的興起,還有成本和永續發展的需求。…
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imec的量測專家將在本文帶領讀者探索深耕40年的晶圓廠量測與檢測技術,瞭解圖形化和元件創新歷史的四大時期,同時提供imec的前瞻量測發展藍圖,其發展動力與多項重大挑戰相關,包含尺寸微縮和3D技術的興起,還有成本和永續發展的需求。…
當全球半導體競逐邁入原子級尺度之際,二維材料被視為延續摩爾定律的關鍵解方。國研院國儀中心今(7)日也宣佈掌握「大面積二維材料製程設備與檢測技術」,並攜手陽明交通大學、日本東京大學及國研院半導體中心,共同突破傳統二維半導體製程的限制,建立晶圓…
於本周進行的2026年IEEE/JSAP超大規模積體電路(VLSI)技術與電路研討會上,比利時微電子研究中心(imec)攜手微影解決方案大廠艾司摩爾(ASML)與晶圓代工大廠台積電(TSMC),共同發表一套創新、穩健且可擴充的12吋晶圓整合…
於本周舉行的2026年IEEE電子元件與技術會議(ECTC)上,比利時微電子研究中心(imec)攜手EV集團(EVG)共同發表一項發展穩健且產量高的晶圓級異質接合技術,成功在一款具備可佈線內連導線的測試元件上展示200奈米的銅內連墊片間距。…
在全球持續尋求突破傳統電子元件極限的背景下,最新發布的《2026 Skyrmionics Roadmap》研究報告,為下一代計算與儲存技術勾勒出一幅極具前景的藍圖。報告指出,一種名為拓撲自旋結構(skyrmions)的微小磁性結構,正成為自…
於今年IEEE國際電子會議(IEDM),imec展示運用極紫外光(EUV)微影技術首次成功完成的固態奈米孔晶圓級製造。固態奈米孔作為分子感測應用的有力工具,正在逐漸興起,但還未進行商業化。這項概念驗證是邁向其經濟高效(大規模)生產的關鍵一步…
突破材料限制開啟建構晶片新局面。在國科會自然司、尖端晶體材料開發及製作計畫與A世代前瞻半導體專案計畫,以及教育部特色領域研究中心計劃的大力支持下,由中興大學與成功大學共組的研究團隊,成功研發出全球首見的「懸浮式鐵電膜整合二維電晶體」技術成果…
鮑曼莫斯科國立技術大學(BMSTU)與俄羅斯國營杜霍夫自動化科學研究院(VNIIA)合作,成功開發出一種用於下一代處理器的次埃級(sub-angstrom)製程技術。這項名為 iDEA(離子束誘導缺陷活化) 的創新技術,能夠以正負0.2埃(…
imec的研究顯示,包含氧化銦鎵鋅(IGZO)傳導通道的3D整合式電荷耦合元件(CCD)記憶體是絕佳的潛力元件。…
在本週舉行的 2024年IEEE國際電子會議(IEDM) 上,比利時微電子研究中心(imec)展示了一項突破性的技術創新:基於互補式場效電晶體(CFET)的雙列標準單元架構。這種設計採用了兩列CFET元件,並共用一層訊號佈線牆,成功實現製程…
本文敘述透過配置AMD Kria KR260機器人入門套件控制Trossen Robotics ReactorX 150機器手臂運行,以及說明處理非常複雜的伺服系統和機器人應用時,所需要進行大量處理來規劃和解決機器人運動。…
開發人員可利用PIC16F13145系列微控制器中的可配置邏輯模組(CLB)周邊,實現硬體中複雜的離散邏輯功能,進而精簡物料清單(BOM)並開發客製專用邏輯。…
全球電子元件和工業自動化產品的授權代理商貿澤電子(Mouser Electronics)即日起供貨Microchip公司的PolarFire SoC探索套件。PolarFire SoC探索套件已針對工業自動化、邊緣通訊、物聯網、汽車、智慧視…
就人工智慧(AI)裝置的硬體來看,關鍵的零組件共有四大塊,分別是邏輯運算、記憶體、PCB板、以及散熱元件。他們扮演著建構穩定運算處理的要角,更是使用者體驗能否優化的重要輔助。…
嵌入式行業對基於RISC-V的開源處理器架構的需求日益增長,選擇商用晶片或硬體方面卻有限。Microchip推出PolarFire SoC Discovery工具套件,為嵌入式處理和計算加速提供友善、功能豐富的開發套件,藉由Microchi…
為了滿足嵌入式應用日益增長的客製化需求,Microchip Technology Inc.推出PIC16F13145 系列微控制器(MCU),配備全新核心獨立周邊(CIP),亦即可配置邏輯區塊(CLB)模組,可直接在MCU內創建基於硬體的訂…
比利時微電子研究中心(imec)於本文攜手矽智財公司Arm,介紹一種展示特定晶背供電網路設計的設計技術協同優化(DTCO)方案,其中採用了奈米矽穿孔及埋入式電源軌來進行晶背佈線。…
本文內容說明系統技術協同優化(STCO)如何輔助設計技術協同優化(DTCO)來面對這些設計需求。…
此篇訪談中,比利時微電子研究中心(imec)先進圖形化製程與材料研究計畫的高級研發SVP Steven Scheer以近期及長期發展的觀點,聚焦圖形化技術所面臨的研發挑戰與創新。…
要將自旋軌道力矩磁阻式隨機存取記憶體(SOT-MRAM)用來作為底層快取(LLC),目前面臨了三項挑戰;imec在2022年IEEE國際電子會議(IEDM)上提出一套創新的SOT-MRAM架構,能夠一次解決這些挑戰。…