Fractilia：隨機性變異威脅數十億美元半導體生產良率 (2025.07.18)
隨著半導體製程技術持續推進至最先進節點，隨機性（stochastics）變異已成為影響量產良率的最大障礙。根據Fractilia最新發表的白皮書，隨機性圖案變異導致晶圓廠每年損失高達數億美元，甚至使整個半導體產業面臨數十億美元的潛在損失。這…
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Fractilia將隨機性誤差量測導入晶圓廠 提升EUV管控與良率 (2023.02.22)
Fractilia宣布Fractilia Automation Metrology Environment（FAME）產品組合推出最新生力軍：FAME 300。專為量產（HVM）晶圓廠製造環境所設計的FAME 300，可針對先進節點之微影圖…