芯測科技提供便捷版記憶體測試方案EZ-BIST

芯測科技(iSTART)為了協助客戶對智慧財產權領域規避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版記憶體內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用於MCU相關的系統晶片開發商。

採用芯測科技所提供低成本且高效率的記憶體測試開發工具，可協助客戶快速的開發產品，避免忽略記憶體測試的細節而導致產品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音辨識、馬達控制、家電控制、電子標籤等MCU相關的系統晶片。