安立知助村田製作所開發USB 3.2雜訊抑制解決方案

Anritsu 安立知宣佈，村田製作所 (Murata Manufacturing) 使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀，成功解析了 USB 3.2 通訊過程中導致雜訊產生的機制。

圖一 : 安立知助力村田製作所開發 USB 3.2 雜訊抑制解決方案

USB 3.2 通訊過程中所產生的高頻雜訊會導致無線區域網路 (WLAN) 和 Bluetooth 無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質下降等主要問題。

村田 Murata 建立了符合 USB-IF 標準組織 USB 3.2 RFI 系統級測試的電磁雜訊測試環境，並於該環境中使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀 MS2830A，釐清了導致雜訊產生的機制。
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