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Tektronix測試新方案適用於MIPI M-PHY 3.1版規格
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2014年12月09日 星期二

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Tektronix(太克科技)日前推出適用於MIPI聯盟新核准的MIPI M-PHY 3.1版規格的實體層發射器特性分析和除錯解決方案。全新的Tektronix解決方案可支援MIPI M-PHY High Speed Gears 1/2/3、PWM模式(G0-G7)及SYS模式,並提供低雜訊的解決方案,可與Tektronix MSO/DPO 70000DX示波器和P7600系列探棒搭配使用以進行MIPI M-PHY量測。

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MIPI M-PHY序列介面技術在下一代的行動裝置上得到越來越廣泛的應用,可提供高頻寬、低引腳數量和電源高效率。最新的3.1版規格提供了可靠的低功耗PHY,但也為示波器量測和探測帶來了一些重大的挑戰,包括最小化待測裝置(DUT)上的共模負載,以及如寬頻寬、低雜訊和高靈敏度等訊號完整性要求,得以滿足工程師測試下一代MIPI M-PHY發射器的需求。

Tektronix公司高效能示波器總經理Brian Reich表示:「我們發現在行動裝置的設計中越來越重視效能,這意味著有越來越多的設計採用了MIPI M-PHY Gear 3標準,以在MIPI M-PHY規格下使用資料高傳輸率來運作。而由於低振幅訊號和高速相結合,也為設計人員帶來了全新的訊號擷取挑戰。Tektronix探測解決方案能完全滿足MIPI M-PHY 3.1版的要求。」

若要測試以高速模式執行的MIPI M-PHY發射器,則需要示波器和探棒系統的上升時間比訊號上升時間快3倍、200 mVFS的靈敏度、增加最小的雜訊 (<1或2 mVrms),以及符合MIPI M-PHY標準指定的高反射損耗。Tektronix MSO/DPO 70000DX示波器和P7600系列TriMode探棒是滿足這些需求的量測系統,同時還以低雜訊和高靈敏度來提供HS量測所需要的便利且一致的匯流排終端。最接近的替代方案靈敏度比Tektronix差10倍 (Tektronix:35 mVfs,競爭廠商:360mVfs),並會對訊號增加4倍以上的雜訊(Tektronix:<1mVrms,競爭廠商:4 mVrms)。

展望未來,MIPI聯盟正在制定下一代M-PHY HS Gear 4標準,此標準將可增加資料傳輸率,這將會對量測方法和等化技術引入新的需求。裝置的位元錯誤率(BER)特性分析要求區分抖動和雜訊的影響。在接收器端,眼狀圖會由於訊號衰減而完全閉合並需要進行等化處理。Tektronix的分析解決方案DPOJET和SDLA(串列資料連結分析)提供了使用全輪廓顯示的抖動和雜訊分析,以及適用於HS Gear 4標準的接收器等化技術,可充分滿足這些需求。

針對除錯和分析作業,Tektronix M-PHYTX測試解決方案、Tektronix視覺觸發、DPOJET抖動及時序分析使工程師能在裝置特性分析期間快速而自信地進行識別與除錯。針對MIPI M-PHY接收器測試,Tektronix提供了BERT和節省成本的任意波形產生器(AWG)解決方案。

此外,Tektronix與其解決方案合作夥伴Prodigy還針對SSIC(應用處理器與如數據機、輔助晶片和無線LAN等介面之間的匯流排介面)提供了通訊協定解碼解決方案。另外,Tektronix亦提供了適用於MIPI M-PHY、MIPI DigiRF v4、MIPI UniPro和MIPI LLI等通訊協定的完整通訊協定解碼和分析解決方案。MIPI M-PHY選項現已全球供貨。(編輯部陳復霞整理)

關鍵字: 示波器  探棒  行動裝置  Tektronix測試新方案適用於MIPI  訊號擷取  無線通訊測試 
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