加速车用晶片设计时程 新思科技工具获ISO 26262认证

广泛来看，诸多国际一线的半导体业者投入车用电子领域已有不短的时间，然而在市场开始推广功能性安全标准：ISO 26262後，不光是汽车与一线模组厂需要满足此一规范，近年来，我们可以看到不少一线车用半导体大厂，除了AEC-Q100视为解决方案的基本配备外，ISO 26262这个字眼，也开始出现在车用半导体的世界中。

图一 : 新思科技RTL合成、功率与测试自动化部门Gal Hasson

然而，晶片要满足AEC-Q100或是ISO 26262要求，追本溯源，还是要从EDA供应商出发，由EDA业者所提供的解决方案，来进一步因应车用半导体业者的设计需求。新思科技RTL合成、功率与测试自动化部门Gal Hasson表示，新思先前所推出的ATPG（自动化测试型样生成）工具TetraMAX?已经获得的SGS-TUV所颁发的ISO 26262中最高等级的ASIL D认证。

Gal Hasson进一步谈到，TetraMAX?的主要特色在於可以减少25%的测试型样（Test Patterns）的输出，但在测试型样生成的速度也能大幅提升10倍，简单来说，就是要为客户节省测试成本。对於诸多晶片大厂，如高通、博通或是联发科等，测试时间意味着测试成本的存在，所以如何进一步减少或是降低，成了这些业者的重要课题之一。新思能够提供的，不光只是测试性分析，像是测试时间的压缩、自我测试建置与良率分析等，都是新思所能提供的方案之一，

不过，Gal Hasson也强调，减少25%的测试型样的确可以为客户省出不少时间，但相对的，在没有减少这25%的的情况下，相对的也能让客户所开发的晶片品质有所提升，所以相对的，在时间与品质之间的拿捏，就是客户本身需要思考的课题。另一方面他也透露，目前已有车用晶片业者已将制程节点瞄准在14与16nm FinFET制程上，尽管无法透露客户名称，但新思已经着手协助他们处理这方面的设计与技术问题。