R&S推出毫伏特等級電壓測試的新款示波器探棒

羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz, R&S) 新推出衰減係數1:1的被動探棒R&S RT-ZP1X，其再次拓展了R&S示波器的應用範疇。R&S探棒與示波器的前端僅有極小的雜訊，兩者結合使其成為量測低至1 mV/div極小訊號的理想選擇，如積體電路和元件的電源完整性測試。

圖一 : R&S推出毫伏特等級電壓測試的新款示波器探棒。

現階段許多產業對於電源測試的要求明顯增加，尤其在嵌入式設計領域，開發人員藉由整合愈來愈多的功能模組到極小空間來降低系統功耗，因此，電源完整性測試在相關應用中是至關重要的。開發人員及工程師需要測量電路中毫伏特範圍的訊號，進而研究元件的雜訊特性。為了獲得更準確的量測結果，一款具有合適靈敏度、低雜訊的探棒是不可或缺的。

新款R&S RT-ZP1X被動探棒能夠和R&S RTE系列示波器（頻寬達2 GHz）及R&S RTO1000/2000系列示波器（頻寬達4 GHz）精準配合。該探棒搭配R&S RTE系列示波器，提供了電源完整性量測應用中最佳性價比的解決方案。即使在1 MΩ 輸入阻抗的情況下，示波器的低雜訊前端亦可實現低於650 μVpp的背景雜訊 （1mV/div、頻寬200MHz）。而一般示波器僅能在50 Ω 輸入阻抗下才能達到相同等級的雜訊值。
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