愛德萬測試(Advantest)與中芯長電半導體有限公司(中芯長電)正式簽訂大量採購合約。中芯長電將自愛德萬測試購入大量的記憶體測試系統T5830，用於測試串列週邊介面(SPI) NOR快閃記憶體裝置，而在有機發光二極體(OLED)與觸控面板感應晶片(TDDI)迅速成長的帶動下，SPI NOR快閃記憶體裝置需求持續走強。
中芯長電半導體執行長崔東表示：「中芯長電對於與愛德萬測試簽訂策略性合約感到非常高興，並期許在業務範圍拓及持續成長的記憶體市場以及研發更複雜的3D IC之際，持續維持雙方公司之間的合作關係。」
中芯長電過去就曾安裝愛德萬測試測試系統V9300以測試高速數位與精度類比IC。而此次是中芯長電首次向愛德萬測試購買記憶體測試系統。
愛德萬測試總裁兼執行長Yoshiaki Yoshida表示：「中國的人口與人均收入不斷增加，帶動NOR快閃記憶體產業成長。企業基礎建設發展日趨成熟，以及包含中芯長電在內的產業主要參與者規模不斷擴大，成為帶動市場成長的助力。」
於2016年推出的T5830記憶體測試機功能一應俱全，能為廣泛用於行動電子裝置的各式快閃記憶體低，提供最佳化的低成本大量測試能力。T5830系統能執行晶圓測試並為低腳位到高腳位IC提供最終測試，可為客戶創造可觀的投資回報(ROI)並降低他們的財務風險。
T5830系統採用愛德萬測試獨特的Tester-per-Site架構，因此每個Site都能獨立運作，有助加快測試時間並降低測試成本。此系統亦包含具可擴展性的內建大電流可編程電源(PPS)。
T5830系統資料傳輸速度最快可達800 Mbps，並能在配置4個數位腳位情況下，同時測試多達2,304個裝置。除了測試NOR快閃裝置，T5830系統也支援NAND快閃裝置、智慧卡、單列直插式記憶體(SIM)、電子抹除式可複寫唯讀記憶體(EEPROM)以及其他嵌入式快閃記憶體。
T5830系統適用生產及工程開發，可用於認證測試或大量生產，且可完全相容於T5800系列產品，強化其可靠性以及模組可升級性。
