安立知VectorStar VNA推出UFX去嵌入功能

安立知(Anritsu)为其VectorStar向量网路分析仪 (VNA) 推出通用夹具提取 (Universal Fixture Extraction，UFX) 选项，提供讯号完整性及on-wafer工程师更广泛的on-wafer及夹具校准选择，即使是在不具备全套校准标准时亦能使用。专为满足4G及新兴5G系统、以及回程网路及资料中心之高频、高数据速率需求相关的设计挑战，UFX具备独特的分析工具，使工程师可以更准确、更有效地进行评估设计。

图一 : 安立知提升VectorStar VNA性能，新的去嵌入功能可实现更精准的高频 DUT 效能验证，以满足5G及资料中心云端系统的高速资料传输率需求。

配置UFX的VectorStar VNA可为讯号完整性及on-wafer工程师提供多重优势。该VNA解决方案经由强化测试夹具去嵌入来强化模型精度，进而提升首次产能，因此可加速上市时程。同时，亦提供工程师开发具备竞争优势的高速资料吞吐量产品之能力。

完全校正的测试夹具校准技术要求夹具传输路径两端需具备一套完整的校准标准。在无法取得完整校准标准之环境中，传统的方法是假设夹具的两个路径是完全对称并且匹配，但由於这是非典型的方法，因此使用先前的技术将导致大量的去嵌入错误。UFX选项提供了先进的去嵌入工具，使工程师能随着标准可用性的提高逐步增加校准标准和特徵数据，以提高夹具提取准确度。
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