TTS發表高解析度非接觸型三維測量儀

東京貿易TECHNO-SYSTEM（TTS）日前在2004年第15屆國際模具加工技術展中展出了一具可調整測量範圍的高解析非接觸型測量儀“COMET IV”。另外，COMET IV在這款測量儀上頭還採用了可將測量時間減少至此前1/3的高速模式，至於上市時間及價格該公司則尚未確定。

在這款儀器發表之前，該公司曾陸續推出過三款可優先考慮解析度或可優先考慮測量範圍的測量儀。包括在2004年3月底上市，測量範圍為390×295×250mm、測點間平均距離（高解析度模式）為0.240mm的“COMET VarioZoom 2M 400”，以及測定範圍為200×150×150mm、測點間平均距離（高解析度模式）為0.125mm的“COMET VarioZoom 2M 200”。4月間又上市了測定範圍為80×60×60mm、測點間平均距離為0.050mm的“COMET VarioZoom 100”。與之前採用130萬畫素圖元CCD鏡頭的VarioZOOM相比，VarioZoom 2M系列採用了200萬畫素CCD的鏡頭，解析度明顯提高了更多。

由於此前測量範圍與解析度兩者不可兼顧，有時需要同時使用多台測量儀器才能滿足需要。COMET IV採用調節CCD鏡頭與光源距離的方法，同時實現了此前COMET VarioZoom 100與200（或400）兩種機型的功能。另外，該公司修改了調整條紋（測量物件投影用)角度的裝置，現在只需要之前一半的角度變化次數即可完成高速測量。在此之前，每幅照片的測量時間約30秒左右，現在則只需10秒。