安捷倫科技（Agilent Technologies）的93000 SOC系列測試系統新近推出Pin Scale HX高速擴充卡（Extension Card），這是一套可以量測資料速率高達12.8 Gbps之高速元件及介面特性的測試解決方案。Pin Scale HX提供了不折不扣的信號完整性（Signal Integrity），以因應新一代元件介面諸如PCI Express、HyperTransport和SERDES，以及新興的高速記憶體和超高速數據通訊介面等完整的原速設計特性分析及量產測試的需求。

今日新的運算及通訊裝置採用的高速匯流排和介面速度已達5 Gbps或更高，有些序列連結的資料速率甚至達到了10至12 Gbps的範圍。高度的元件整合，再加上奈米技術的發展，造成了新型態的製程瑕疵及量測參數錯誤等問題。為了讓良率儘早達到可獲利的目標，製造商無不尋求能徹底驗證新設計的特性，在產品實際投入量產之前，能協助訂出合理邊限（Margin）的測試解決方案。此外，降低整體測試成本的無止盡需求也促使製造商在大量生產時，採用BIST（內建自我測試）的能力及DFT（Design-for-test）的可測性設計。

安捷倫科技半導體測試事業群副總裁Pascal Ronde表示：「安捷倫科技持續在93000機台的架構上，推出彈性、可擴充的解決方案，以先進及創新的技術，提供製造商測試下一代以及未來的高速元件的需求，經由Pin Scale HX擴充卡加入93000機台中，客戶便可擁有全世界最快速的元件特性量測能力。這正是我們在最低的測試成本上提供客戶業界最佳的高性能量測能力，以保障客戶在ATE投資的最佳實證。」