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IC測試當務之急 高整合ATE完整測試免煩惱!
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【課程簡介】:
     自動測試設備(ATE)是指用於檢測電子元件功能之完整性的相關裝置儀器設備。這些測試裝置透過訊號的產生與擷取,並捕捉元件的回應來檢測元件的品質與特性是否良好。在半導體元件的生產過程中,ATE測試通常為IC製造最後的一道關鍵流程,用於確保晶片的品質良好。
     對於需要高性能、高性價比自動測試解決方案的IC測試應用,ADI提供更高度整合的引腳電子元件(PE)、元件電源(DPS)和參數測量單元(PMU)等。這些特定針對ATE應用的產品以及ADI標準方案的各種組合(包括MEMS開關、高性能轉換器和RF收發器),能夠在負載板中提供滿足最新測試要求的各種自動測試解決方案。
     
●活動名稱:
     IC測試當務之急 高整合ATE完整測試免煩惱!

     
●活動時間:
     2020年06月30日(二)上午09:58~11:00(含會後30分鐘QA)

     
●課程重點:
     ADI針對ATE自動測試設備元件優勢探討
     ●ATE系統市場需求。
     ●如何打造高整合度ATE系統。
     ●DPS和PMU方案介紹。
     

     
●主講人:高富華
     ●高富華是安馳科技 ADI 產品線的應用工程師,2005加入安馳科技。
     ●負責類比元件、放大器、資料轉換器及MEMS傳感器的應用。
     ●在 ADC/DAC 信號攫取與控制有豐富的經驗。
     ●近年來專注於「基於MEMS 技術的新一代感測器與診斷預測」。

     

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