SoC整合测试技术探索──P1500与CTL简介

传统电路板的设计方法SoB（System on Board）与现在开发中的SoC（System on chip；系统单晶片）设计方法十分类似，同样是整合事先设计好的IP Core（个别设计的电路，功能不一），但是在做系统的整合测试时，却有基本上的差异。

在SoB设计方法中，是将各IP Core 晶片分别生产出来，再整合成系统，所以可以针对每颗IP Core 晶片，个别测试其硬体层级的电路功能；但是在SoC的整合过程中则不是这样，因为SoC强调的就是单晶片的观念，在此系统晶片生产之前，个别的IP Core与UDL（User-Defined Logic）并不会有实际的硬体产生，因此只能做软体层级的验证，无法对个别的IP Core做硬体层级的电路测试，只有等到SoC生产的时候，与整个系统同时进行测试。因此IP Core的供应者只提供测试的方法与测试资料，而SoC的设计者却必须负责系统的整合，并将各个IP Core的测试资料，转换成SoC相对应的测试资料，进行测试。

对此，学界、业界现今在开发一套技术，以针对SoC进行整合测试，也就是所谓的P1500标准，其原理是对IP Core外加一些电路，使其具有一定规格，方便做SoC整合测试；而为了描述P1500标准，也同时发展出另一套测试语言CTL（Core Test Language）。 CTL目前是属于IEEE P1450.6标准的范围，其目的是为了描述P1500标准的包装界面以及系统测试的各项资讯而产生的。以下将分别就P1500标准及CTL两种技术，提出说明。
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