由半导体测试设备厂商爱德万测试(Advantest)主办的VOICE开发者大会,2017年以113场技术发表会、规模更大的互动资讯站和新增加的技术发表主题,厌祝大会迈入第二个十年。VOICE 2017邀请到三位不同专业领域的优秀讲者,更特别为V93000与T2000系统单晶片(SoC)测试平台和爱德万测试测试机解决方案的用户,筹画了合作赞助厂商的产品展示和讨论场次。
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今年的大会将再次於美国和亚洲各举办一场,在美国的场次订於5月16~17日,假加州棕榈泉印第安维尔斯凯悦Spa度假酒店(Hyatt Regency Indian Wells Resort & Spa)举办;亚洲场次则於5月26日在中国上海锦江汤臣洲际大酒店登场。
VOICE 2017 技术议程邀请爱德万测试来自12个国家、22间企业的客户、合作夥伴和员工,向与会贵宾分享产业洞见及最隹实践经验。技术发表主题将涵盖特定元件测试、硬体设计与整合、提升产出、缩短产品上市时间、最新软/硬体测试解决方案、测试方法、产品工程,以及ATE产业热门议题,此外更将增加新主题,首次探讨针对V93000平台的SmarTEST 8.0技术。
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