SEMI測試產業委員會正式成立 看好異質整合需求

行動、高效能運算、汽車和物聯網這四大推動半導體未來成長的應用，以及加速上述應用成長的人工智慧及 5G，都使多功且高效能晶片的需求倍增。這些新一代的高速運算晶片，多半已開始採用晶片堆疊架構，並整合多種不同的晶片來擴充其功能與效能。異質整合已成為不可逆的趨勢。

圖一 : SEMI測試產業委員會正式成立鞏固半導體高階應用可靠度最後防線

隨整合在同一封裝中的晶片數量越多，結構越複雜，不僅使找出個別不良晶片難度提高，元件間的相容性與互連也為IC成品可靠度加入許多不確定因子。除此之外，先進製程成本控制壓力與縮短的上市周期，更催生顛覆傳統的測試方法。傳統以單一元件個別測試(Final Test)的重要性已被晶圓級測試(Wafer Level Test)及系統級測試(System Level Test)取代。

過去從設計的角度來提高訊號的可控制性和可觀察性(Design for Test)，也將被Test for Design的概念所強化。Test for Design強調收集測試過程中所產生的數據，加以分析學習後回饋至設計端以減少設計規範上的錯誤，進而縮短開發時間。未來，設計、製造、封裝、測試將不再呈線性關係，而是一個不停循環優化的過程。
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