Mentor Graphics於5月12日宣佈，Simtek已採用Calibre xRC寄生參數萃取(parasitic extraction)工具作為它奈米設計的解決方案，並利用它來設計高效能的資料非揮發性記憶體。Calibre xRC為訊號及電源線路分析提供最佳化的階層式寄生參數資料，又能和Nassda的後佈局階層式模擬工具HSIM整合，這是Simtek選擇它的主要原因。Calibre xRC是第一和唯一能滿足奈米技術嚴苛要求的寄生參數萃取工具。

Simtek工程副總裁David Still表示，從前的寄生參數萃取工具會將資料全面展開，讓他們無法在大型設計中模擬寄生參數效應，Calibre xRC則能夠迅速產生精簡的階層式電路清單 (netlist)，使得Simtek能在他們的設計流程中利用階層式模擬工具來驗證和模擬他們的設計。

Calibre xRC提供電晶體層級的寄生參數萃取功能，可用來為奈米設計建立精確模型。這套工具已被整合至許多設計和模擬流程，讓設計人員能在他們原來的架構上工作，同時提供複雜奈米分析所需的精確度和效能。

Nassda資深行銷主管Graham Bell表示，提供階層式寄生參數資料以支援逆向註記 (back annotation) 至原始電路清單是Calibre xRC的獨特功能之一，Calibre xRC DSPF資料格式和萃取方法也已最佳化，以便支援Nassda執行訊號和電源線路分析時較喜歡採用的階層式模擬流程。利用這項流程，雙方共同客戶在執行大型奈米設計的階層式寄生參數萃取和模擬時，就能得到更高準確度和更強大效能；此外，由於處理容量更大，客戶還能執行過去所不可能做到的後佈局分析。

Mentor Graphics設計與製造部門副總裁暨總經理Joe Sawicki表示，提供階層式電路清單是Mentor奈米矽晶片建模計劃的目標。透過與Nassda合作，Mentor已發展出一套強固可靠的解決方案，可以協助Simtek解決大型設計的電晶體層級寄生參數萃取和模擬的兩難困境。Calibre xRC和HSIM產品系列的組合為設計人員帶來一套獨特的階層式方法，使他們能夠執行後佈局的訊號效應分析以及電源線路分析。