搜尋

會員登入

搜尋

導覽

會員

是德科技推出半導體功率元件特性分析解決方案

瀏覽次數:4611

是德科技(Keysight)旗下的Keysight B1505A功率元件分析儀/曲線追蹤儀推出多項新的增強特性,使其成為可量測晶圓上(on-wafer)和封裝元件的所有關鍵參數的解決方案,以加速推動現代半導體功率元件的開發。


圖一 : Keysight B1505A功率元件分析儀/曲線追蹤儀推出多項新的增強特性
圖一 : Keysight B1505A功率元件分析儀/曲線追蹤儀推出多項新的增強特性

在飛速成長的電子產業中,可靠、高效率的半導體功率元件扮演著極重要的角色。而高效率的元件開發有賴於對晶圓上和封裝元件的各種新特性進行徹底評估,並與傳統元件特性加以比較。這些特性包括閘極電荷(Qg)、元件電容(輸入電容、輸出電容和逆向轉換電容),以及閘極電阻(Rg)。 因此工程師必須在實際運作狀況下,分析元件之低溫或高溫特性。然而,直到現在市面上都尚未出現具備所有這些功能的單一解決方案。


憑藉其新的增強特性,Keysight B1505A可提供執行晶圓上和封裝元件量測與特性分析所需的完整功能。B1505A的自動化熱溫測試功能可與熱管理設備同步運作,以支援攝氏-50度至+250度的操作溫度範圍。新的量測功能則針對高壓偏壓元件提供自動化電容和Rg量測。如此一來,工程師可透過低壓和高壓設定來執行Qg曲線量測,以便對IGBT模組等高功率元件進行準確的特性分析。
...
...

使用者別 新聞閱讀限制 文章閱讀限制 出版品優惠
一般使用者 10則/每30天 0則/每30天 付費下載
VIP會員 無限制 25則/每30天 付費下載

Card Image

PIC32-BZ6:新一代高度整合單晶片無線平臺

隨著智慧設備的射頻(RF)設計複雜性日益增加,傳統無線解決方案通常需要多晶片組合才能新增功能,或頻繁重新設計才能滿足不斷升級的行業標準。為此,Microchip推出全新高度整…

隨著智慧設備的射頻(RF)設計複雜性日益增加,傳統無線解決方案…