NI引進半導體 ATE數位功能至 PXI

NI國家儀器推出 NI PXIe-6570 數位波形儀器與 NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理 IC、MEMS 裝置與混合訊號 IC 的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備 (ATE) 的封閉架構。

圖一 : 數位儀器提供智慧型半導體測試系統開發所需的軟硬體功能

最新半導體裝置的需求不斷超出傳統 ATE 的測試範圍。藉由引進半導體產業所建立的數位測試範例至 半導體測試系統 (STS) 採用的開放式 PXI 平台中，並運用強大好用的波形編輯器與除錯工具加以改良，使用者便能利用最先進的 PXI 儀器減少測試成本，並提升 RF 與類比?主 IC 的傳輸率。

「PXI Digital Pattern Instrument 對STS而言相當重要，此儀器提供工程師他們原先以?僅有高階數位測試平台才具備的所有數位功能。」NI 半導體測試副理 Ron Wolfe 如此表示：「產線上的 PXI 只要具備此項功能，工程師便能滿足先進裝置在價格與測試上的需求，並且輕鬆套用至自身目錄的其他產品。」
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