Tektronix針對ONFI快閃記憶體標準推出測試解決方案

Tektronix（太克科技）推出針對開放式NAND快閃介面（ONFI）標準的測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案可用於Tektronix高效示波器，包括可分析ONFI匯流排上DDR2/3模式的軟體，以及介面板為基礎的有效探測解決方案。

圖一 : 結合適用於ONFI 4.0標準的相容性測試軟體和使用Nexus介面板的有效探測。

ONFI標準由ONFI工作小組發布，以簡化在消費性電子產品和計算平台中整合NAND快閃記憶體的程序。ONFI 4.0規格引入了進化的NV-DDR3介面，並具有VccQ = 1.2V運作能力，可有效提升效率和提高功耗，將NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴展至667 M /s和800 MT/s，並新增了 ZQ校準功能。

隨著速度的增加和電壓位準下降，使用ONFI匯流排的設計人員將面臨確保相容性、除錯時序問題和存取訊號等挑戰。TEK-PGY-ONFI軟體可讓設計和測試工程師能測試ONFI介面對ONFI匯流排時間參數的相容性，並提供命令、位址、資料輸入和資料輸出等事務的自動量測。TEK-PGY-ONFI軟體中的細節視圖功能透過使用類比波形註釋來協助除錯時序問題，從而關聯ONFI波形的每個電氣量測。
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