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安捷伦将于国际微波研讨会展示最新的测试产品
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2011年05月27日 星期五

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安捷伦科技(Agilent)于日前宣布,将于6月7-9日在美国巴尔的摩会议中心登场的2011年IEEE MTT-S国际微波研讨会 (IMS) 中,展示旗下适用于先进射频与微波研发及制造的最新设计与测试产品。

台湾安捷伦科技董事长暨电子量测事业群总经理张志铭表示,安捷伦的设计与测试解决方案,为工程师提供他们在促进射频、微波和毫米波电子的研发与设计上所需的工具,已超过65年的时间。在IMS 2011中,安捷伦将展示为现今最先进的应用所打造的尖端解决方案。

在研讨会场的摊位上,安捷伦将展示的产品技术包含创新的设计工具、波形分析与特性描述工具、宽带信号产生与分析解决方案、频率最高可到50 GHz的毫米波信号分析解决方案、非线性行为分析解决方案、LTE-Advanced物理层测试解决方案、4埠,110-GHz毫米波VNA组件特性描述解决方案、适用于超高速互连分析的16埠,67-GHz VNA解决方案,以及射频与微波现场测试解决方案。

關鍵字: 安捷伦 
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