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微影技術再添喜訊 157奈米突破瓶頸
預計未來導入65奈米線寬

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2002年09月20日 星期五

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全球半導體技術聯盟於今年3月對外表示,157 奈米出現物性技術瓶頸,將延後半導體廠進入70奈米米製程的時程。但是近日舉辦的第三屆157奈米微影技術國際座談會,會中有專家指出,157奈米光學微影技術的主要瓶頸已克服,而且現在半導體產業已計畫在65奈米線寬裡,導入157奈米微影技術;相關供應商預計2004年,將推出首台157奈米掃描機。

今年年初時有業者表示,目前業界的90奈米製程,仍以193 奈米微影設備為主,預計2004 年才能真正量產;157奈米設備最外為2005年才能試產,到時相關的所有物性瓶頸,將能獲得解決。然而今年第三季157奈米已有所突破,證明157的後續發展時程需再做調整。

1965年摩爾博士曾以微處理器的電晶體密度,每18個月將增加一倍,此即半導體產業著名的「摩爾定律」,然而要跟上此定律,必須不斷提升製程技術,其中的關鍵技術即為微影。業界對微影技術的看法各有詮釋,有業者認為波長157奈米氟(F2)雷射為未來市場主要光源,日本半導體產業開發目標則鎖定在VUV(Vacuum Ultra-Violet)和EPL(Electron Projection Lithography)。

關鍵字: 157奈米  70奈米  65奈米  90奈米  193奈米  摩爾 
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