美商國家儀器 (National Instruments, NI) 將於 9 月 3 日至 9 月 5 日於 「2014 SEMICON Taiwan 國際半導體展」 發表最新半導體測試儀，歡迎前往 NI 攤位共同探究、了解 NI 最新半導體測試系統。

半導體晶片的設計難度不斷提升，並需要更高階的測試系統描述效能特性，且進一步提高了測試成本。NI 透過高彈性的硬體平台 PXI，與多 Site 平行測試排程軟體，以降低晶片測試的成本。全新的 NI 半導體測試系統 (Semiconductor Test System, STS)，適用於 RF 和混合式訊號生產測試，並搭載 Port Module 可同時進行多埠的 S 參數與調變訊號測試，目前已有多家半導體領導公司採用，大幅提升效能與降低成本。此款半導體測試系統，將是 NI今年半導體展最大的重頭戲。

除此之外，我們亦將於現場展示半導體領域各相關應用解決方案，藉由 PXI 平台的彈性與高效能，將可為您帶來極高的工作績效與成果，竭誠歡迎您蒞臨美商國家儀器攤位參觀指教。

【活動資訊】

● 展館地點：台北世貿南港展覽館 (4樓)

● 攤位號碼：134