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新兴分析工具加速设计除错及验证
 

【作者: 楊雄偉】2005年06月01日 星期三

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今日的电子设计人员处理的资料组比以前大得多,而此趋势在未来也将持续。先进的数位设备设计趋势让工程师和系统研发人员倍感压力,必须迅速识别捉摸不定的软硬体问题起因,才不会威胁到研发时间。特别是在需要以较高速进行操作且必须回应一或多个输入讯号,不需受限于高阶计算及通讯应用的电路问题。工程人员可能要处理「主流」(例如,以高达 100MHz 执行的微控制器应用)或「高阶」(例如,超过 2.5GS/s的PCI Express串列资料流)的讯号。


处理数位讯号的工程人员最主要的考量就是讯号完整性,特别是以一种决定且可信任的方式,将讯号从数位电路的一部份散布至另一部份的需求提供讯号所包含的数位资讯。需要特定分析及以经验为依据进行原型量测才能确保足够的数位讯号完整性,以验证设计模型方法的有效性。对于必须面对多通道高速串列汇流排如PCI Express及SATA III、新DDR2技术如FB-DIMM(fully buffered dual inline memory module),或手机通讯市场常见的先进处理器及汇流排系统的工程人员而言,这些考量变得日益重要。


对于处理这些复杂挑战​​的工程人员来​​说,可选择的工具就是逻辑分析仪。近年来,逻辑分析仪的性能及简易使用的特性已大幅改善,而现在的工程人员熟悉以Windows使用者介面为特性的仪器、以Windows为基础的开放式PC控制器、所有显示在单一显示器上的资料会自动进行与时间关联的量测,以及可让仪器针对特定应用自行设计或扩充以符合未来需求的模组结构。
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