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浅谈IGBT模组并联优势
最坏状况模拟法到全面统计法

【作者: M.Buschkuhle,C.Messelke】2008年03月17日 星期一

浏览人次:【3529】

前言

IGBT模组采用平行连接产生的降额(de-rating)必要性,从绝缘栅双载子电晶体(IGBT)问世后就一直存在着。如果设计者欲尝试解决此问题,反而会陷入两难局面。过去有人提出包括统计计算法在内的数种解决方案,但尚未有人能回答以下关键问题:如果采用低于最坏状况假设法建议的降额幅度,装置规格限值被超过的机率为何?若采用例如Infineon所采取的蒙地卡罗(Monte-Carl)模拟法,或许可以提供这方面的资讯。


先前使用方法:最坏状况分析法

并联切换IGBT模组的参数变化,会导致各模组电流不平衡,造成模组间的温度差异。现在问题是与单一模组操作比较下,并联模组可以用到什么程度。


先前如从规格数据中采最大数的最坏状况假设法,到头来得出的降额因子数据,显示并联法根本有问题。


下面范例显示5个FF200R12KT3模组并联,总电流量700A下所得出的不平均DC电流计算结果,如图一所示。每个模组的环境参数为:UDC= 600V、IRMS=140A、fMotor=50HZ、fsw= 6500Hz、?P cos£p= 0.9?C


《图一 5个并联的FF200R12KT3模块示意图》
《图一 5个并联的FF200R12KT3模块示意图》

假如所有模组都完全依照原厂规格数据中的静态与动态参数,那么计算出的操作温度为TJ=114°C。在饱和电压下且全部模组参数皆使其达最高规格限值,接面温度将从8°C提高到122°C。下面我们进行所谓最坏状况假设法。


其中一个模组(sort1)供给标准饱和电压,其他四个模组(sort2)供予最大规格限值,如图二所示。


《图二 饱和电压直方图》
《图二 饱和电压直方图》

采标准饱和电压模组(sort2)的电流量为197A。在切换状态下最高接面温度超过 10°C达到135°C,模组在大规格限值下的电流量为12​​6A,接面温度为119°C。根据实际结果显示,最坏状况假设下的并联结果刚好等于可能的过量降额,但是否有其必要?机率又有多大?我们试着用以下方式解答。


蒙地卡罗法(Monte-Carlo method)

蒙地卡罗法提供观察装置作用的可能性、采取大范围样本得出的变异统计量。这个方法的操作原理是随机乱数,可透过如俄罗斯罗盘法来取得数值。例如Infineon的蒙地卡罗模拟工具可替n个并联模组中任一模组产生一组参数,如图三所示。



《图三 LabVIEW的仿真程序用户接口示意图》
《图三 LabVIEW的仿真程序用户接口示意图》

若按步骤来说蒙地卡罗法模拟的基本程序为:


  • ●第一步随机选择接通状态电压来计算分到的电流值;


  • ●接下来的模拟步骤是程式在每个模组计算出的电流上,加上切换产生的损耗值;


  • ●然后将模组的Rth乘以计算出的损耗电流,得出接面温度值;


  • ●最后一个步骤是调整通态电压与​​切换损耗电流的比率,使其结果符合先前计算的接面温度值。



蒙地卡罗模拟法重复上述四个步骤,直到每个模组的接面温度趋于一致为止。图四的流程图说明随机模组组态损耗计算程序:



《图四 随机模块组态损耗计算原理流程图》 - BigPic:707x320
《图四 随机模块组态损耗计算原理流程图》 - BigPic:707x320

上述程序用于每个计算出的模组组态,透过这种反覆的方式,得出所有参数对应的温度值。


参数变异

有几项参数与其分配必须纳入考量,方能让模拟出的数据更接近真实状况。对于非平衡电流,VCEsat数值是适合的输入参数。 VCEsat的变异值可从100%最终测试数据中完整获得。一颗1200V IGBT3 晶片饱和电压的标准直方图,如图二所示。并联模组之间温度差异的肇因是切换动作的不平衡所致,事实上有两个主要原因造成电流不对称,首先是晶片参数变化,例如输入阻抗VGEth,另一方面则是系统参数变化,例如闸极驱动级的变化。


从实验室测试数据来看,接通(turn-on)与断路(turn-off)损耗值的标准差是标准数值​​的 5~7%。


除了断路损耗值的变化外,Eoff与VCEsat之间还存在着此消彼长的关系;饱和电压越低,IGBT晶片的断路损耗就越高,反之亦然。这种反比关系式也存在于蒙地卡罗模拟工具中。


如同前述,系统参数变化也会影响到接通损耗,闸极驱动级的变化如牵动晶片参数变化时,就必须将其纳入考量。这有可能是光耦合子的延迟或渡越时间发生变化,或是闸极驱动级输入阻抗产生改变所致。


在许多案例中,系统在设置时各项参数若失衡,会造成统计数值的变异。这些失衡有可能源自电流路径中的不对称电阻或不对称寄生状态,尤其是杂散电感。


使用蒙地卡罗模拟法,若要得到正确的结果,最重要的一点是从真实设置环境中,取得所有系统化失衡的数据。若获得或知道愈多的设置参数,往后的ppm报告也就会愈精确。


模拟结果

模拟后可得出装置电流与接面温度的分布函数。底下直方图显示5组并联的FF200R12KT3模组,在执行4万次蒙地卡罗模拟运算后的结果。第一个直方图如图五所示,显示5个模组中出现的最高温度,图六则显示5个模组全部的盒状图,并且标示最高温度分布状况。


《图五 最高IGBT接面温度直方图》
《图五 最高IGBT接面温度直方图》
《图六 IGBT接面温度盒状图》
《图六 IGBT接面温度盒状图》

PPM 报告

从模拟结果我们可推出答案如下。超出上限接面温度组态的ppm比率,可协助客户选择适合自己所需的模组。最高接面温度范例演算结果分布,则相当于对数常态分布,如图七所示。



《图七 5个并联模块的温度值分布示意图》
《图七 5个并联模块的温度值分布示意图》

有了这个函式与对应的标准差后,我们就有可能得出超出设定接面温度模组组态的ppm比率。


根据最初计算,我们有可能预测并联IGBT模组超出最高接面温度如TJ=125°C 0.6ppm。使用最坏状况计算出最高温度值刚好为135°C。


结论

并联IGBT模组使用蒙地卡罗模拟法,可以凭借随机模组参数与系统在设置时的失衡数据,计算出失衡电流、切换损耗与接面温度。然后再根据计算出的数值,算出超越最高接面温度的期待ppm比率值。


在本文的例子中,由最坏状况分析法仅可获得温度值135°C,而蒙地卡罗法却可获得更多的资讯。每百万个模组中,只有0.56个会超出IGBT的温度限值。这些报告支持电源转换电路研发人员,找出最适合的模组类型。


(本文作者均任职于Infineon Technologies AG英飞凌科技)


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