NI 发表高精度PXI电源量测单元

NI 国家仪器於近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过 NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用 NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆叁数测试、材料研究、低电流感测器与 IC 的特性测试等多种应用。

图一 : NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。

「我们的行内叁数测试必须撷取数百万个资料点，过程中常会产生数微微安培的泄漏电流，」IMEC 研究员 Bart De Wachter 博士如此表示：「新款 NI PXI SMU 可准确量测这些低电流讯号，并同时享有 PXI 平台的快速除错与 LabVIEW 提供的系统设计弹性。」

工程师可透过模组化 NI PXI SMU 打造体积精巧、平行的多通道数系统，并享有多达 68 个 SMU 通道的单一 PXI 机箱，能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。此外，使用者可善用高速通讯汇流排、精确的硬体序列与数位控制??路技术，藉此提高测试输出率并客制微调任何待测装置的 SMU 响应。使用者也可以运用软体控制 SMU 响应，不仅可缩短 SMU 趋稳作业漫长的等待时间，还能藉由软体的弹性减少过冲与震荡，即使是高电容负载也一样。
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