安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，已将首款完全整合的1.1 THz网络分析量测解决方案交货给日本山口大学（Yamaguchi University）。该解决方案纣提供山口大学在从事THz（兆赫）频率的超常材料（metamaterials）研究上使用。

电磁频谱的THz范围，在高数据速率通讯、先进电子材料光谱学、太空研究、医疗、生物、监管及远程感测上，有极大的应用潜力。尽管如此，THz范围在频谱领域中仍尚未被深入探索。再者，高功率的THz信号源在THz频率范围内，过于依赖具有有利特性的材料，因此材料研究遂成为最新的THz系统相当重要的一环。

安捷伦表示，其整合的量测解决方案足以解决该挑战，其能准确量测新材料中的THz信号。该信息对于山口大学成功进行材料研究有极大的帮助。安捷伦的解决方案采用Virginia Diodes公司所生产的全球第一款完全校验、750 GHz到1.1 THz的频率延伸模块WR-01，以及安捷伦的高效能50 GHz PNA-X向量网络分析仪。这些仪器以优于50 dB的动态范围，提供完全校验的向量网络分析量测。

该公司进一步表示，用户首度可以利用PNA-X的校验技术，来执行稳定可靠的THz量测。该仪器的动态范围，可确保用户轻易地达到高灵敏度的量测。由于频率延伸模块提供750 GHz到1.1 THz的频率操作范围，因此用户在撷取较高分辨率的影像时同样轻而易举。