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ASMPT 借助 Renishaw 光学尺技术强化高性能运动控制
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2025年08月19日 星期二

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在当今半导体产业的奈米级别发展下,後段制程设备面临着精度、生产力和稳定性等挑战。光学尺作为运动控制中至关重要的元件之一,需要不断更新技术并推出新产品,以满足市场的严苛要求。

ASMPT新加坡总部,图二为Renishaw光学尺系列
ASMPT新加坡总部,图二为Renishaw光学尺系列

总部位於新加坡的 ASMPT 致力开发先进的半导体组装和封装设备,与 Renishaw合作已经超过 25 年,在光学尺产品应用、客制化方案和设备检测方案等领域累积丰富的合作经验;光学尺作为运动控制系统中的重要元件,规格必需不断升级以满足 ASMPT 因应市场的需求。

在选择光学尺产品时,必须要考虑几个关键要素:速度、抖动、光学尺体积,与安全和规性。为了满足这些要求,光学尺厂商需要不断研发创新,以提高速度、降低抖动、减小体积和重量,并确保产品符合相关的安全标准和验证要求。而 ASMPT 多年来采用多款 Renishaw 光学尺产品,从 RGH 到 RESOLUTE 系列,再到近期的 ATOM DX 微型系列和 VIONiC 高性能系列等,应用在不同阶段的後段制程设备上,包括 INFINITE 12 英寸晶片键合机,专为一般 IC 封装而设计。

除了光学尺外,ASMPT 亦使用 Renishaw XL-80 雷射干涉仪和 XM-60 多光束校正仪等校正设备,在设备生产和定期预防性维护方面发挥着重要作用。例如,他们使用XL-80 雷射干涉仪进行检测和校正,以确保设备在运作过程中的准确性和稳定性。此外,Renishaw XM-60 多光束校正仪具可以同时量测六个自由度的误差,且只需进行一次设定。都有助於了解每台加工设备的精度等级和加工能力,确保设备的正确运作和生产效率。

ASMPT 研发部总裁蔡秉刚博士表示,可以预见光学尺的规格要求将会朝着高速度、高解析度和低讯号抖动的趋势发展,对於控制器和光学尺来说都是一大挑战,而 ASMPT从来没有怀疑过 Renishaw 的实力,相信其能继续提供合适的光学尺产品。

为了延续与 ASMPT 长期合作的成功经验,让更多业界夥伴深入了解精密量测技术於半导体产业的应用,Renishaw 将於 9 月 10 日至 12 日叁加 SEMICON Taiwan 国际半导体展,诚挚邀请业界先进莅临展位,共同探索如何透过创新量测技术,迈向更高的制程精度与良率。

展览讯息

· 展览名称:SEMICON Taiwan 国际半导体展

· 展览时间:9月10 日(三) -12日(五)

· 展览时间:9月10 -11日, 10:00-17:00;9月12日, 10:00-16:00

· 展览地点:台北南港展览馆1馆 & 2馆 (台北市南港区经贸二路1号)

· 展出位置:【Renishaw】南港展览馆二馆四楼 S7458 摊位

· 展出重点:涵盖 ASMPT 所采用的运动控制光学尺与设备校正系统,并特别展出应用於材料分析的拉曼光谱仪。

關鍵字: 光学尺  运动控制  ASMPT  Renishaw 
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