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聯陽半導體採用芯測科技START記憶體 測試與修復整合性電路開發環境
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2019年09月26日 星期四

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深耕於開發記憶體測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek,簡稱 iSTART),宣布SRAM的測試與修復整合性電路開發環境-START獲得聯陽半導體(ITE,簡稱聯陽)採用。芯測科技的 START 解決方案透過可支援Stand-Alone SRAM的Soft-Repair技術來修復損壞記憶體,不需要使用額外備援記憶體,且不增加芯片成本,其電路面積也較小,可幫助客戶提升良率並降低開發成本。

芯測科技(iSTART)所研發的記憶體測試與修復整合性電路開發環境-START是Tool-Based的解決方案,可自動生成內嵌(Built-in)記憶體測試和修復電路並導入客戶設計中,其產生的電路面積小並可以提供客製化功能設計協助。而START中Soft-Repair修復方式利用沒有使用到的SRAM(Stand-Alone SRAM)作為記憶體修復時需要的備援記憶體。特性為不需要額外的非揮發性記憶體與控制電 路來儲存修復相關設定資訊,因此可以節省整體晶片的面積,且晶片效能也不會被非揮發性記憶體的存取速度所侷限。

此外,芯測科技的產品工具友善度極高,再加上圖形化使用者介面(GUI),大大提升使用方便性,在配合技術人員的即時 支援,可快速解決客戶不同需求,協助客戶提高設計效率並滿足客戶不同應用的需求,更大幅提升晶片良率與降低芯片開發成本;再加上也實現矽晶驗證(Silicon-Proven)的紀錄,代表芯測的產品已完全達到業界要求,亦不會被製程 是否支援備援記憶體模組而限制,大大提升設計的彈性。

關鍵字: 芯測  聯陽 
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