惠瑞捷(Verigy) 宣布为旗下V6000 WS测试系统新增内存冗余分析功能SmartRA。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案，能帮助制造商解决DRAM冗余分析中日渐成长的失败储存空间与效能需求。SmartRA正于7月14至16日的SEMICON WEST展览中展出。

惠瑞捷于2008年11月推出的V6000 WS系统，是业界第一套可同时应用于闪存与DRAM的晶圆测试系统，不仅具备可扩充性，更能满足大量测试需求。随着SmartRA的推出，V6000 WS用户将可轻松地透过冗余分析功能提升产出量及良率。

随着DRAM密度日渐成长，晶圆测试也面临更高的挑战，需要更强的并行测试能力，测试频率和组件冗余电路的复杂程度也逐渐提升。这也为冗余分析带来了前所未有的大量数据。因此，在撷取失败数据并有效完成冗余分析的过程中，加强储存空间和效能的需求因应而生。

为满足业界的众多需求，惠瑞捷开发了SmartRA，藉由此解决方案具备的高效能刀锋服务器，企业可依据本身需求提高冗余分析的处理效能，无须扩充测试机台容量。另外，SmartRA采用开放性软件架构，客户可选择采用惠瑞捷提供的算法或另外自行开发，可缩短上市时程并降低测试成本。