半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest)发表旗下TAS7400TS太赫兹光学取样分析系统的最新高频率解析度选项。新选项具备优异的成本效益又操作简便，为无线电波吸收与基板材料之高频特性评估。提供了极具开创性的测量方法。这些材料都是Beyond 5G / 6G次世代通讯科技、还有应用於先进驾驶辅助系统(ADAS)之毫米波雷达科技所不可或缺的要件。

图一 : 爱德万发表的TAS7400TS太赫兹光学取样分析系统的最新高频率解析度选项。能进行Beyond 5G下一世代通讯技术趋势的材料特性量测

经济、省空间、操作简便。

向量网路分析仪(VNA)於评估毫米波和高频领域各类材料之传输特性 (穿透率、反射率) 与复杂的介电常数的广泛应用已久，近年来，在更广频宽进行这些特性评估的需求更为重要，因此VNA花费在测定与校准每一个频段的时间与工夫逐渐成为需要检讨的课题。
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