愛德萬測試M4841分類機新增主動溫控技術 提升元件產能、縮短測試時間

半導體設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)24日發表旗下M4841大量元件分類機在主動式溫度控制 (ATC) 的新功能。ATC 2.0就車用半導體測試期間自生熱 (self-heating) 效應導致的溫度波動提供動態調節，有助確保生產測試更為精準，可滿足多達16顆先進系統單晶片 (SoC) 並測需求，同時提升產出率、縮短測試時間。

圖一

舉凡電動車 (EV) 或其他成長快速之資料密集型汽車應用，譬如車用資訊娛樂系統和即將面市的Level 4自駕技術等，作為驅動力的關鍵元件往往需要進行大量資料處理。隨著半導體製造日新月異，帶動這些先進元件無論在功能還是功率效益上都更進步，但散熱設計功率也跟著增加，導致元件在測試期間自生熱，增加測試溫度控制的難度。於是，追求及時而穩定的元件溫度管理分類機需求就此產生。

新發表的整合化ATC分類機取代先前被動式的溫控技術，讓M4841得以提供持續穩定的測試環境，並具備快速反應和高負載追蹤特性，即使在測試期間出現溫度波動，也能使元件內部溫度維持在固定的測試溫度。這種穩定性能幫助使用者建立具有高靈活度的測試程序，連帶的也大幅提升整體測試效率。
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