安捷伦科技(Agilent)于日前宣布,已将首款完全整合的1.1 THz网络分析量测解决方案交货给日本山口大学(Yamaguchi University)。该解决方案纣提供山口大学在从事THz(兆赫)频率的超常材料(metamaterials)研究上使用。
电磁频谱的THz范围,在高数据速率通讯、先进电子材料光谱学、太空研究、医疗、生物、监管及远程感测上,有极大的应用潜力。尽管如此,THz范围在频谱领域中仍尚未被深入探索。再者,高功率的THz信号源在THz频率范围内,过于依赖具有有利特性的材料,因此材料研究遂成为最新的THz系统相当重要的一环。
安捷伦表示,其整合的量测解决方案足以解决该挑战,其能准确量测新材料中的THz信号。该信息对于山口大学成功进行材料研究有极大的帮助。安捷伦的解决方案采用Virginia Diodes公司所生产的全球第一款完全校验、750 GHz到1.1 THz的频率延伸模块WR-01,以及安捷伦的高效能50 GHz PNA-X向量网络分析仪。这些仪器以优于50 dB的动态范围,提供完全校验的向量网络分析量测。
该公司进一步表示,用户首度可以利用PNA-X的校验技术,来执行稳定可靠的THz量测。该仪器的动态范围,可确保用户轻易地达到高灵敏度的量测。由于频率延伸模块提供750 GHz到1.1 THz的频率操作范围,因此用户在撷取较高分辨率的影像时同样轻而易举。