自动化量测具备高弹性特色，为竞争日益激烈的电子产品制造商，提供了高性价比的量测解决方案，从大方向来看，自动化量测从2010年开始，有五项较为明显的趋势，这些趋势将使的此一产业出现与以往不同的面貌。

相较于单机式量测技术，自动化测试大量应用了各类PC技术，虽然整体效能较弱，不过具备了开放性与模组化特色，让自动式测试具备了高度弹性，无论在系统扩充或采购成本，都更具优势，尤其在自动化测试导入PCI Express后，传输速率大幅提升，应用领域快速拓展，就目前来看，自动化测试技术在2013年后会走向几个趋势。

图一

首先是标准化，现在各类产品面临的上市时间压力愈来愈大，为提升研发、生产效率，系统标准化成为必须，系统标准化才能促使作业标准化，整体运作状态也才能被有效评估，要进行自动化量测标准化，可以从软硬两个部份进行，硬体面是让设备在严苛标准与全无标准的光谱两端取得平衡，全无标准会导致标准不一，无法依需求调整生产作业时间，致使产品上市时间拉长，品质也难以控制，反过来看，若标准太过严苛，会导致设计过于保守且废品过多造成成本高涨，要在两者之间的平衡拿捏，可透过标准化平台来达成。

标准化测试充分掌握品质

标准化平台具备了必要的测试功能，而且其弹性化架构可依各企业需求不同而调整，导入后企业在反覆测试微调，找出最符合需求的标准，之后便以此作为作业核心标准，即可取得最佳效率。

软体面是利用通用软体架构来建立系统通用介面，通用模组化软体可用来处理资料库、报表纪录、硬体抽象层与操作介面，同时软体也应具模组化设计，以便可随时插入、更换测试指令码，标准化软体也可让工程师更专注研发项目，不必分心开发测试管理与企业连结方案。

多通道RF测试拓展全新领域

第二部份是多通道RF测试，RF以往是自动测试系统的弱项，不过在PC技术大量导入后，已逐渐将应用触角延伸到此，自动化测试在RF将会锁定两大领域发展，包括MIMO （Multi-input Multi-output，多点输出输入）与SoC（System-on chip，系统单晶片），MIMO在RF技术的优势，是在不必更动频宽的作为下，提升资料传输量，SoC则是在单一晶片下，整合不同射频技术，这两者都会引发量测新需求，在此情况下，工程师就会需要多通道的RF量测设备，以利同时进行多方测试。

多通道的需求来源，在于现在电子产品的高整合性，以智慧型手机来说，现在都会具备多种无线传输技术，例如WCDMA、蓝牙、WLAN、GPS等，这些无线技术若都建在SoC，使用多通道仪器就可大幅提升测试量，减少测试次数，让仪器的效能得以顺利发挥，虽然现在已有多重RF同步化仪器，不过无法达到相位同调，自动化量测可以完整同步化各组RF仪器的局部震荡、ADC取样时脉达到真正的相位同调。

P2P运算有看头的新领域

第三个趋势是点对点运算（Peer to Peer ，P2P），这是指在分散式架构下，处理多重节点的作业方式与资源分配，在资料量庞大的领域中，不可能像PC一样只用一组核心进行运算，而是建置多组核心运算，再彼此串连，这类传输的拓璞方式，每秒钟至少要能传送数个Gigabyte的资料，而且成星状，点与点之间可互相传递，不必经过中央集线，而且要在1秒钟之内完成资料撷取与讯号处理。此外更重要的是，使用者可客制化处理节点，就目前来看，可以满足这些要求的只有PCI Express，PCI Express被认定为唯一可让客制化测试仪器的资料传输量，达到上述需求的汇流排。

点对点运算需要的分散式、高效能架构，其实到目前为止都仍未完全成熟，未来将有更多的创新技术应用于此，而从长远来看，点对点运算已是大势所趋，接下来的传输量只会愈来愈大，测试需求也会渐趋复杂，自动化测试设备的弹性化与客制化特性，可充分贴合测试需求，在短时间内组成适合仪器，提升测试效率。

更复杂的嵌入式架构

第四个趋势是嵌入式设计与测试，嵌入式系统架构现在愈来愈复杂，这不但使得测试程序必须更多样，也让检验使用范例时难度更高。在此情况下，测试者必须简化设计与测试程序，而这些程序往往又必须重写测试程式码、测试范例等，这些程序都会对开发商带来沉重的人力与资源负担，同时也会影响产品上市时间。

要解决这些问题，可利用自动化测试的重复设计与测试特色，来减少设计流程中的测试次数，不必再像现在，必须不断尝试在开发程序中，重复利用测试模型的方式，现在的即时测试软体都可再次使用测试作业，因此可以避免程式码传输与重新撰写，这些造成系低落的问题。

FPGA提升可重设型

第五个趋势是可重设式的仪器，测试仪器的重设原因相当多，像是测试需求重定、仪器送修时的替代品等，现在有厂商推出具有FPGA的自动化量测设备，让系统的重设能力更强。

FPGA是现场可编辑逻辑阵列闸，与ASIC（特殊应用IC ）不同的是，FPGA可以重复编辑程式，让工程师可以设定晶片以建立客制化功能，FPGA的可重设特性，让使用者在重新编译不同的电路组态时，可立即赋予完全不同的特性。

其实FPGA应用于量测仪器有有超过10年的历史，不过实际嵌入自己逻辑的工程师并不多，主要原因在于工程师必须熟悉Verilog或VHDA等语言，以初阶语法描述硬体行为，才能有效发挥FPGA的技术。

就应用面来看，目前军事与航太等领域，使用FPGA仪器都已有多年历史，现在自动化测试仪器厂商，计画把产品推广到在一般消费性产品，乃至于汽车、医疗、交通等领域。