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雷射辅助切割研磨碳化矽效率
提升化合物半导体产业竞争力

【作者: 陳念舜】2023年12月26日 星期二

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目前在提升再生能源装置容量和能源效率,皆有高度关联性的关键技术,莫过於利用化合物半导体来制造高效能功率半导体元件,以承受高电压、高温冲击。台湾厂商还具备过去多年来於矽基半导体产业累积的基础,且有如工研院等法人单位辅导,正积极投入建立材料开发、雷射辅助加工制程等测试验证平台和服务,将加速产业聚落成型。


尤其是伴随着交通运具电动化与提升能源效率等需求,包括:碳化矽(SiC)、氮化??(GaN)、InP、Ga2O3、AIN等化合物半导体,因为比起传统矽基材料(Si-based)具备更宽裕的能隙特性,用来制造高效能功率半导体晶片元件,将可有效减省约50%电能转换损耗、20%电源转换系统成本,所以极适合提供高功率(>400V)、高电能转换效率应用,满足耐高压(>800V)、高温及高频需求。


工研院在2023年举行的「南台湾策略论坛」也指出,如今化合物半导体已逐渐导入电动车及充电桩、再生能源发电与传输,甚至是低轨卫星、5G/6G高频通讯、人工智慧(AI)基础装置、工业设备等低碳生活模式,减省充电时间和电池成本,而极富有战略意义。依工研院南分院预估其中SiC晶圆市场快速成长(CAGR~15%),2028年全球规模将达到17亿美元。



图一 : 如今化合物半导体已逐渐导入电动车及充电桩、再生能源发电与传输,甚至是低轨卫星、5G/6G高频通讯、人工智慧(AI)基础装置、工业设备等低碳生活模式,而极富有战略意义。(source:II-VI-SiC-for-5G)
图一 : 如今化合物半导体已逐渐导入电动车及充电桩、再生能源发电与传输,甚至是低轨卫星、5G/6G高频通讯、人工智慧(AI)基础装置、工业设备等低碳生活模式,而极富有战略意义。(source:II-VI-SiC-for-5G)

台湾藉矽基产业筑底 构建化合物半导体代工能量

惟若进一步分析现今高功率半导体元件挑战,便是约有50%成本来自SiC长晶材料和高品质基板,仍由少数国外大厂主导,整体基板产量不足,6寸N型SiC晶圆成为量产主流,也将是台湾半导体产业为来追求上游材料自主化的契机。


然而,基於化合物半导体种类繁多,对於材料自主化与在地设备挑战大,亟待评估量体较大的材料「优化技术」,并建立「设备改造」能力。台湾因为过去在深耕矽基半导体材料和制造使用技术上,具有漫长且成功的历史。包括在上游元件制程与下游次系统都有企业长期耕耘,掌握电路整合、成本控制能力,进而打造完整资通讯、汽车电子产业链,适合发展化合物半导体材料、制程设备,以及IC设计、封测和模组终端应用。


但如今产业仍处於起步阶段,包括上游粉体、长晶及晶球、晶锭、磊晶等原材料,以及元件制造与设计、设备来源皆仰赖进囗,又以欧美日IDM厂商为主。未来则可能与垂直分工模式并存,适合引进国外系统厂商,代工制造将是台湾产业转型,有潜力叁与功率电子产业发展的机会。从元件设计、磊晶制造、封装测试、模组系统等,亟待设立「成品验证场域」;同时培养或招募足够国内外化合物半导体人才,投入研发资源,以建立上位战略智权能量。



图二 : 如果能更方便加工,提高在量产效应下的生产效率,将有助於压低半导体材料及其元件、模组的价格。(source:ii-vi.com)
图二 : 如果能更方便加工,提高在量产效应下的生产效率,将有助於压低半导体材料及其元件、模组的价格。(source:ii-vi.com)

雷射辅助SiC改质加工 提升效率与品质

此外,因为目前商用碳化矽晶圆片制造流程,系先将长晶所得晶柱切片与整形,再利用线锯切割机切成晶片,经过粗研磨将晶片整平,而提高平整度(Total Thickness Variation;TTV)、并降低粗糙度;透过精密研磨,将表面粗糙度Ra降至3~5nm以下;最後再透过化学机械抛光(Chemical-Mechanical Planarization;CMP),达到成品晶圆片的规格TTV<3μm,Ra<0.3 nm。


但由於SiC材料硬度约为矽基材料的1.8倍,在现已确认的矿物及化合物中位居第三,仅次於钻石和碳化硼,将造成目前为晶锭切片主流的钻石线锯切割技术,在加工制程中磨耗过大且速度缓慢,而成为大面积晶圆制造瓶颈。代表厂商包括:Asahi diamond(日)、DMT(英)、微钻石设备(台)等,切割速度6寸约2.4小时/片>48小时/晶锭。依工研院南分院举例说明,透过线切割厚度约600μm晶圆之後,可能仅得350μm晶圆、切片料损约260μm,包括磨抛及切割耗损材料约占43%。


加上因为SiC基板表面上的任何缺陷,都可复制到外延层,导致SiC晶片的表面平坦化对於高性能元件非常重要。惟其超高机械硬度(莫氏硬度9.3)和化学惰性,使之难以同时达成理想的高材料移除率和良好表面平坦度,後续研磨/抛光不易,利用砂轮进行研磨的使用寿命短。


例如以400号砂轮的耗损率约3μm/min为例,砂轮可供磨耗厚度约8mm,换算推得每颗砂轮仅能研磨44小时即须更换,因此增加研磨成本与时间且量产不易;抛光制程则是速率缓慢,移除率仅有6.9nm/min,等於抛光一片碳化矽晶圆约须8~16小时,成为大面积碳化矽晶圆制造瓶颈。


国际大厂为保有技术与生产的优势,自2019年起宣示投入新建或自6寸改建为8寸晶圆产线,依国际产业研究机构IHS评估,最快在2023年即将出现量产8寸晶圆。但面对SiC晶锭切片设备问题与挑战,如日本大厂DISCO、Infineon(德)、SILTECTRA采取先进雷射切割,切割6寸速度达到10min/片、磨抛切片料损80μm,约占13%。


另因应现今全球碳化矽晶圆材料短缺且昂贵,4寸碳化矽晶圆售价高达600美元以上;研磨抛光设备则由日系大厂DISCO与SPEEDFAM垅断,长远来看,将严重影响台湾产业链发展。如果能更方便加工,提高在量产效应下的生产效率,将有助於压低半导体材料及其元件、模组的价格。


台湾在SiC晶圆制造(切割、研磨及抛光等)方面,虽有制造厂(环球晶、汉磊及太极等)及设备商(创技、世极、凯勒斯)投入,但使用传统机械加工与国外进囗设备并进方式,成本高、速度慢、制程技术仍落後国外。


图三 : 台湾在SiC晶圆制造方面,虽有晶圆制造、设备商投入,但使用传统机械加工与国外进囗设备并进方式,成本高、速度慢、制程技术仍落後国外。(摄影:陈念舜)
图三 : 台湾在SiC晶圆制造方面,虽有晶圆制造、设备商投入,但使用传统机械加工与国外进囗设备并进方式,成本高、速度慢、制程技术仍落後国外。(摄影:陈念舜)

南分院也提出制程调整的解决方案之一,便是可透过超快雷射改质软化方法,先将长晶所得晶柱切片与整形,再利用线锯切割成晶片,经研磨提高平整度、降低粗糙度;经过超快雷射诱发多光子分子键解离效应,破坏聚焦处的碳化矽半导体材料键结,分解成矽(Si)、碳(C)与非晶态碳化矽(Amorphous SiC),将呈现柱状周期性微结构软化晶圆表面。


之後将经由抛光过程的机械应力轻易去除,大幅降低SiC硬度90%以上,再导入一般SiC晶圆化学机械抛光制程工序快速移除软化层,去除预定深度的SiC,并达成晶圆/片规格,加速SiC晶圆的制程效率约30%,即可大幅减省抛光研磨制程的时间与耗材、料损。


同时利用其前身为工研院雷射中心优势,具备完善的雷射源与光学系统开发能量,适合开发雷射辅助改质系统,发展软化SiC晶圆技术,用以加快抛光效率;进而导入台湾精密机械、加工业可涉足的雷射辅助切割研磨SiC晶锭应用,从入料、超音波裂片、分离晶锭与晶圆、晶锭研磨,直到雷射改质。


进而在SIC晶锭雷射改质技术策略上,分别布局:


1.雷射源压缩模组「切得好」:如Wolfspeed、DISCO藉由调整雷射源的功率与聚光点位置,在块状晶体内形成损伤,减少晶体材料的切囗损失,专利脉冲宽度调变技术则朝向更短脉冲雷射布局态势。南分院为此开发出超快雷射极短脉冲压缩模组,压缩每发雷射脉冲宽度至140fs(2025年<100fs),以降低雷射作用於SiC的热影响,从而减少料损,验证後可降低切割热效应,减少料损;


2.光路的聚光点扫描加工方式「切得快」:着重於面状、圆形等单点聚焦高斯光斑雷射改质方法,整体产速慢、改质料损大。南分院为此开发水平线性光路模组,将雷射光整型聚焦成均匀水平长形光条,提升改质能量均匀与产速,估计Aspect Ratio达12.72(254.6μmx20μm)、均匀度82.5%(2025年1500μmx10μm)。


同时确保4寸SiC晶锭切割品质验证,研磨後料损仅86μm(表片粗糙度Sz=76μm),优於传统钻石切割料损260μm。2025年切割速度≤18mins/片、研磨损失≤50μm。


再将雷射改质後的晶锭,透过超音波裂片模组施加15~35Hz特定频率,震荡改质後的裂纹进行延伸与扩张;利用调整超音波头与晶锭间距及功率,完成6寸晶锭裂片,切割速度达到28mins/片、材料损失降低至≤80μm将晶锭与晶圆分离,比起钻石线切割速度提升5倍、材料损失减少3倍以上,基板制造成本占比降至40%;最後以真空吸附方式取下晶圆,此高效生产系统预估可减少80%能耗,无化学切削液污染的乾式制程可满足ESG永续发展。


南分院表示,透过导入雷射辅助SiC晶圆快速抛光制程,估计可提升整体制程效率30%及生产效率,进而带动台湾厂商及早切入SiC半导体材料的关键生产技术和设备,突破外商限制,建立领先国际的次世代晶圆及生产设备技术,维持台湾韧性供应链的竞争优势。


2022年已在经济部支持下,成功开发出SiC晶锭雷射切割加工关键技术、晶锭移载等试量产设备,在南台湾建构完善的化合物半导体产业设备与制造能力,增加半导体相关产业量能及就业机会。


且因为晶锭裂片表面粗糙度约为66μm,还须经过研磨设备进行表面研磨,才能继续进行雷射改质制程。南分院也特别开发专用於4寸~8寸SiC晶锭研磨设备,并透过即时厚度量测系统监控,将晶锭表面粗度研磨至nm等级,再利用机器人传输到雷射改质设备,进行下一道次的雷射切割制程。


南分院打造测试验证平台服务 加速成立化合物半导体产业聚落

值得一提的是,为了过去化合物半导体材料开发流程只能各凭本事,上下游无法接轨运作,只能进囗居多。工研院电光系统所营运总监朱慕道指出,南分院还自2018年成立台南、高雄实验室,并提出「南方雨林计画」,辅助化合物半导体开发业者落地,并建置材料、元件特性与制程验证、电性评价平台等雏型品验证服务(α-site),即时改善以协助材料最隹化、缩短开发过程,以快速导入市场。



图四 : 工研院电光系统所营运总监朱慕道指出,南分院自2018年成立台南、高雄实验室,辅助化合物半导体开发业者落地,并建置材料、元件特性与制程、电性评价平台等雏型品验证服务。(摄影:陈念舜)
图四 : 工研院电光系统所营运总监朱慕道指出,南分院自2018年成立台南、高雄实验室,辅助化合物半导体开发业者落地,并建置材料、元件特性与制程、电性评价平台等雏型品验证服务。(摄影:陈念舜)

包括因晶圆切割表面易受机械加工形成锯痕与次表面损伤层(Sub Surface Damage;SSD),SSD验证对於提高晶圆表面品质、平坦度非常重要,但因为SiC晶圆坚硬且化学稳定性高,SSD检测困难而常被业者忽略,有赖於该平台建立快速简易的SSD验证方法,以协助台厂优化晶圆制程,提高抛光品质。


进而携手半导体/封装厂等End Users,推动下游产品试量产验证(β-site)链结α-site,以及导入可靠度测试、失效分析等品质管理手法,协助厂商提升试量产批次稳定性,确保材料能被「作得对又好」,与业界共同建立至少13项标准,促其提高使用意愿,也助於评估开发6寸SiC晶圆切割抛磨的品质验证。


未来还可??藉此研发利基,力推於2025年达成开发8寸长晶、晶锭雷射切割设备与模组,以及关键制程材料自主化,弥补Disco的6寸切割设备仅独家供应Wolfspeed,台湾以进囗钻石线切割设备为主的缺囗。


最终基於台湾功率元件厂商规模较小,不易取得系统验证环境,导致因产业认证时间过长,面临经营资金压力,南分院因此发展运作AQG-324高功率元件/模组与测试验证平台与上线服务,确保可通过ISO 17025认证。


最终经由跨业整合材料、制造、设备、设计、模组系统与测试串联产业链,建立化合物半导体技术与测试验证中心与南部新兴产业聚落,以吸引学研界能量培育人才,将材料生产落地高雄、元件制造在南科、模组系统与试量产在新竹/沙仑院区等,以吸引国际合作、??注厂商资源,而投入化合物半导体策略与布局。


**刊头图(摄影:陈念舜)


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