账号:
密码:
最新动态
 
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2012年06月11日 星期一

浏览人次:【2761】

美商国家仪器(NI)将于 6/19(二)~6/21(四) 参加 2012 年台北国际光电大展。此次参展, NI 将针对研发验证到实际产线测试端,所需要的各种不同目的与需求,提出相对应的解决方案。展会现场, NI 同时将展出 LED 多点测试机台,展现 NI 产品于光电产业的高适用性。

以 LED 产业为例,NI 完整的模块化仪器产品线,能帮助客户建置客制化的测试设备,完整满足 R&D 端验证测试的需求,同时利用 PXI 平台高弹性的优势,搭配 Switch 模块,以及 TestStand 高效能自动排程软件,即可将测试功能转移到产线,进行快速生产测试。也因此从研发验证测试到产线测试,NI 一直以来都是客户最佳的选择。

NI 欢迎所有业界先进在台北国际光电大展期间到 NI 摊位 (K 306) 一起共同切磋、讨论,更期待能因为 NI 的方案,协助客户迈向成功。

關鍵字: NI 
相关产品
简化5G功率放大器验证 MaxLinear与NI整合射频演算法与IC测试软体
NI 发表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、灵活且适用於网路的功能
NI推出满足5G NR研究与系统原型制作的全新mmWave Radio Head
NI扩充RFIC测试功能以因应NB-IoT与eMTC标准
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空囗叁考测试方案
  相关新闻
» Durr和R&S合作开展ADAS/AD功能测试 适用於终检和定期技术检验
» R&S SMB100B微波信号产生器 可用於类比信号产生
» R&S和IPG汽车联手推出完整车载雷达硬体在环测试解决方案
» Tektronix频谱分析仪软体5.4版 可提升工程师多重讯号分析能力
» R&S展示蓝牙通道探测信号测量 以提高定位精度
  相关文章
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协
» 迎接数位化和可持续发展的挑战
» 关键元件与装置品质验证的评估必要

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK85C55CPHQSTACUKT
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw