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加速开发O-RAN解决方案 ADI和Keysight建构测试平台
 

【作者: 籃貫銘】2021年06月22日 星期二

浏览人次:【3466】

Analog Devices, Inc.和Keysight Technologies, Inc今日宣布,将合作加速Open RAN无线电单元(O-RU)的网路互通性及合规性测试。


双方将共同建构一强大的测试平台,以验证新O-RU的互通性,包括ADI的low-PHY基频、软体定义收发器、电源,以及与Intelc FPGA整合的时脉。将Keysight的Open RAN模拟、讯号产生及讯号分析能力应用於广泛的用例中,将改良测试流程,降低复杂性和缩短测试时间。


Keysight商用通讯部??总裁暨总经理Kailash Narayanan表示:「我们很高兴与O-RU技术解决方案领导者ADI合作协助服务供应商发挥O-RAN规范的全部潜力。Keysight及ADI将提供技术和测试解决方案,在无线电单元及核心网路之间建立有效的桥梁,加速开发和互通性测试。」
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