Tektronix发表全新TekExpress兼容性测试自动化平台系统，以及全新TekExpress SATA自动化兼容性测试软件。在TekExpress平台系统上执行的TekExpress SATA，运用经过核可的Tektronix串行数据效能仪器套件，使必要的接收器、发射器和相互连接的SATA Gen-1和SATA Gen-2兼容性测试达100%自动化。TekExpress兼容性自动化平台系统，已发展成自动化的高速串行数据标准单键测试。TekExpress平台系统建立在国家仪器公司的TestStand之上，以此作为序列控制的引擎。

从Windows XP PC进行控制的TekExpress SATA，能有效率地执行由SATA-IO工作小组认证之实作方法(MOI)所要求的153 SATA Gen-2测试。TekExpress SATA软件可编排仪器设定和控制序列，在不到3小时的总测试时间内，为SATA-IO核准的所有四个MOI提供完整的认证测试结果。这代表兼容性测试时间减少大约70%，节省设计者在SATA设计验证周期中耗费的宝贵时间。

第二代串行数据总线架构，包括SATA Gen-2，提供了比仅仅数年前大一个数量级的数据传输率。数据速率不断加速，让设计工作的挑战性更大，并增加会影响上市时间、提高开发成本的设计复杂度。因此，设计师需要能够展现更强大效能、更广泛分析，以及更佳测试效率的强大测试设备和软件。Tektronix新型TekExpress SATA自动化兼容性测试套件，可提供无人操控的SATA Gen-1和SATA Gen-2兼容性测试，有助客户简化测试作业，并协助他们更快让新产品上市。

TekExpress SATA兼容性测试所需要的设备，是高带宽实时示波器(DSA70000 系列数字串行分析仪)、高速串行讯号产生器(AWG7102任意波形产生器)，以及高带宽的取样示波器(DSA8200系列数字串行分析仪)。Tektronix DSA示波器和AWG讯号产生器，提供测试所有世代的SATA装置所需的效能，包括规划中设定在6 Gb/sec下运作的SATA Gen-3规格。这些新一代的仪器和应用软件解决方案，构成全新的完备高速串行数据测试平台。

NI TestStand乃专为简化系统测试与验证自动化而设计，立即可执行的测试管理环境。TestStand结合TekExpress，可用于开发、管理和执行SATA Gen-2兼容性测试以外的额外测试序列。