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安立知完成GCT半导体LTE-Advanced单芯片4X4 MIMO测试
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2015年05月14日 星期四

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安立知(Anritsu)MD8430A讯令测试仪与Rapid Test Designer(RTD)软件,成功为GCT半导体公(GCT Semiconductor)完成其4G LTE-Advanced芯片(GDM7243Q)测试。

GCT半导体采用搭载配备RTD软件的MD8430A讯令测试仪验证其4×4 MIMO性能
GCT半导体采用搭载配备RTD软件的MD8430A讯令测试仪验证其4×4 MIMO性能

GCT半导体是先进4G行动半导体解决方案设计供货商,提供搭载支持LTE 4X4 MIMO载波聚合(CA)技术的先进FDD-TDD LTE Cat. 5/6/7单芯片解决方案。 GCT GDM7243Q芯片的运作及其 4X4 MIMO功能已经通过安立知的讯令测试系统测试。 4x4 MIMO(Multiple Input Multiple Output)是指在LTE基地台使用4支发射天线,并在用户设备(UE)装置内建4支接收天线,以便提高频谱效率,实现更高数据传输量以及改善覆盖范围。

安立知的MD8430A LTE讯令测试仪可仿真多达8支发射天线的基地台。 GCT的研发团队采用以安立知RTD软件控制的MD8430A测试仪,在4x4 MIMO联机下以高达300Mbps的速率进行传输,并验证其芯片能够在更长的时间周期下保持稳定的连接。

GCT半导体技术长暨研发副总裁Dr. Jeong-Min Kim表示:「GCT信赖安立知的设备来测试 LTE-Advanced芯片,安立知的MD8430A和RTD解决方案已被证明是可支持如 4×4 MIMO 等关键性能的平台。 」

安立知执行副总裁 Kenji Tanaka 表示:「安立知获得GCT半导体的选择,采用搭载RTD软件的 MD8430A验证其4×4 MIMO性能。 此举显示安立知持续协助LTE设备制造商在激烈市场竞争中验证其尖端技术,并且有效缩短产品上市时间。 」

關鍵字: LTE-Advanced  单芯片  RTD軟體  訊令測試儀  验证  MIMO  安立知  安立知  GCT半导体  測試系統與研發工具  无线通信测试 
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