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InterDigital和Anritsu安立知聯手 展示 5G智慧工廠用例 (2021.06.24)
Anritsu 安立知宣佈,聯手行動與視訊技術研發公司 InterDigital, Inc.,共同展示採用網路切片 (network slicing) 與多接取邊緣運算 (multi-access edge computing;MEC) 功能的 5G 新無線電 (New Radio;NR) 智慧工廠使用案例
安立知完成GCT半導體LTE-Advanced單晶片4X4 MIMO測試 (2015.05.14)
安立知(Anritsu)MD8430A訊令測試儀與Rapid Test Designer(RTD)軟體,成功為GCT半導體公(GCT Semiconductor)完成其4G LTE-Advanced晶片(GDM7243Q)測試。 GCT半導體是先進4G行動半導體解決方案設計供應商,提供搭載支援LTE 4X4 MIMO載波聚合(CA)技術的先進FDD-TDD LTE Cat. 5/6/7單晶片解決方案
安立知與LTE晶片製造大廠Sequans共同展示eMBMS技術 (2014.03.31)
Anritsu安立知與LTE晶片製造大廠 – Sequans 日前共同於2014世界行動通訊大展 (MWC2014) 上成功展示其eMBMS及LTE廣播技術。透過使用內含Sequans LTE晶片的LTE平板,連接Anritsu安立知MD8430A訊令測試儀搭載RTD (Rapid Test Designer) 測試平台,共同展現領先業界的eMEMS效能以及LTE技術
安立知與Intel在MWC 2014 世界行動通訊大展共同展示LTE-Advanced資料傳輸能力 (2014.03.31)
Anritsu安立知使用其MD8430A訊令測試儀搭載RTD軟體與Intel XMM 7260平台成功的在MWC 2014世界行動通訊大展中,展示LTE-Advanced Category 6的最高峰值資料傳輸率,利用載波聚合技術可同時達到300Mbps的下行與50Mbps的上行傳輸速度
安立知支援TD-SCDMA測項開發,LTE裝置可透過Rapid Test Designer軟體執行多模測試 (2013.08.05)
Anritsu安立知為其廣受歡迎的3GPP行動通訊測試解決方案 — Rapid Test Designer(RTD)軟體新增TD-SCDMA訊令測試功能,為晶片及行動裝置製造商的測試案例開發作業提供了更加穩定的環境,並能符合全球最大系統業者 — 中國移動所使用的最新行動通訊標準
安立知推出新款MD8430A/RTD (2010.12.29)
安立知近日宣布,推出MD8430A訊令測試儀單台即可支援FDD/TDD LTE 4x2 MIMO測試,在測試穩定度及功能性。 此外,可搭配PCT軟體進行訊令一致性測試以及執行NTT DoCoMo提供的IOT測試案例


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