於IEEE国际电子会议（IEDM）上，imec成功展示在其12寸CMOS试验制程开发之超颖表面（metasurface）上整合胶体量子点光电二极体（QDPD）。这套先驱方法能够实现用於紧凑型微型化短波红外线（SWIR）光谱感测器开发的可调式平台，建立一套用於经济高效的高解析度频谱成像解决方案之全新标准。

imec成功在12寸CMOS晶圆上开发的超颖表面，整合胶体量子点光电二极体

短波红外线（SWIR）感测器提供独特的性能。透过侦测超过可见光谱的波长，这些感测器可以显示肉眼无法看见的对比和特徵，因此可以看穿像是塑胶或布料的特定材料，或者霾雾等严峻环境。然而，传统的SWIR感测器还是造价高昂、体积笨重，在制造方面也极有难度，使其应用受限於具备特定用途的利基应用。量子点（quantum dot）影像感测器是一种新型SWIR感测器，提供一套富有潜力的替代方案，结合更低的成本与更高的解析度。不过到目前为止，这些感测器一直在宽频运作，而非采用频谱模式。

imec成功在其12寸CMOS试验制程开发的超颖表面共整合了胶体量子点光电二极体（colloidal quantum dot photodiode）来应对这项挑战。量子点是奈米等级的半导体，可以透过调整来吸收特定的红外线波长，而超颖表面是具备奈米图形的超薄元件层，精准控制光线如何与感测器发生作用。透过在与CMOS相容的制程中结合这些元件，imec已经制出一套用於微型化SWIR光谱检测器的可调式平台，提供可利用标准CMOS制程制造的紧凑型高解度感测器架构。