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康佳特最新COM Express Compact模組採AMD Ryzen雙倍性能 (2020.11.20)
嵌入式和邊緣運算技術供應商德國康佳特宣布,首次在其COM Express Compact模組上搭載AMD日前發布的AMD Ryzen Embedded V2000處理器,顯著拓展搭載AMD Ryzen嵌入式處理器的COM Express Type 6平臺的應用領域,使系統設計更加小巧而強勁
更高性能+更低成本 康佳特COM Express模組搭載Ryzen嵌入式R1000處理器 (2020.07.22)
德國康佳特宣布,擴展其conga-TR4系列COM Express電腦模組至最新AMD Ryzen 嵌入式R1000處理器系列。這款新一代節能處理器提供同類產品中最佳的低功耗計算性能,並針對價格敏感的市場進行了優化
TDK推出支持串行ATA 6Gbps的高可靠性固態硬碟SDS1B系列 (2015.05.11)
(日本東京訊)TDK株式會社將於2015年8月開始發售搭載有可支持串行ATA 6Gbps的NAND型快閃記憶體控制IC GBDriver GS1的2.5inch型工業用固態硬碟SDS1B系列產品。 近年來,以OS的高容量化及4K、8K全高畫質數位播放為代表的高畫質大容量數據的儲存等都逐漸要求儲存器實現高速、大容量的用途
TDK推支持串行ATA 3Gbps的Half Slim Type SSD SHG4A系列 (2013.11.05)
TDK株式會社(社長:上釜健宏)將於2013年11月開始銷售尺寸為1.8inch HDD的一半,約54mm×40mm的支持串行ATAⅡ的工業用Half Slim Type NAND閃存模塊SHG4A系列。產品尺寸雖小,卻能達到SLC型NAND閃存、128GByte的容量
百佳泰宣布其深圳實驗室獲SATA授權成為測試實驗室 (2011.08.26)
百佳泰(Allion Test Labs, Inc)近日宣布其位於深圳的百佳泰數碼測試實驗室(Allion Shenzhen Inc),已正式通過SATA-IO(The Serial ATA International Organization)審核,成為SATA標準的認證測試實驗室,即日起將可執行SATA認證徽標計畫(Certified Logo Program),協助客戶通過測試以取得SATA認證
百佳泰深圳成為SATA授權測試實驗室 (2011.08.22)
百佳泰(Allion)近日宣佈,其位於深圳的百佳泰數位測試實驗室(Allion Shenzhen Inc)已於日前正式通過SATA-IO(The Serial ATA International Organization)審核,成為SATA標準的認證測試實驗室
百佳泰採用太克 SATA-Gen 3與HDMI1.4a全套方案 (2010.11.03)
Tektronix近日宣布,百佳泰已採用一整套Tektronix儀器,為包括SATA-Gen 3、HDMI1.4a、USB2.0/3.0及DisplayPort在內的高速串行技術標準提供測試認證。全套儀器包括:DSA72004B數位示波器、DPO7254數位螢光示波器、AWG7122B任意波形產生器、DSA8200取樣示波器以及軟體、探棒和治具等附件,所有相關儀器目前已正式投入使用
百佳泰採用Tektronix HDMI 1.4a與USB 3.0解決方案 (2010.05.20)
Tektronix近日宣佈,百佳泰日本公司(Allion Japan Inc.)已實施Tektronix測試與量測解決方案,進行HDMI 1.4a(高畫質多媒體介面)與SuperSpeed USB(USB 3.0)測試。百佳泰是最早幾家能夠在同一個測試實驗室提供HDMI 1.4a 與USB 3.0一致性與相容性測試的公司之一,這讓該公司得以針對關鍵的消費性電子技術,提供高度可靠的相容性測試驗證服務
Tektronix USB3.0測試方案 促使相容裝置更快上市 (2010.01.20)
Tektronix今(20)日宣佈,該公司的SuperSpeed USB解決方案,支援NEC Electronics USB 3.0相容主機控制器的訊號品質驗證作業,這是獲得USB設計論壇(USB Implementers Forum)認證的USB 3.0產品
太克與NEC共同推動超高速USB測試解決方案 (2009.02.23)
Tektronix與NEC Electronics America, Inc.,於2009消費電子展(2009 Consumer Electronics Show)首次共同公開展示NEC Electronics新的SuperSpeed USB(USB 3.0)元件原型。NEC Electronics與Tektronix合作,提供其滿足最新 SuperSpeed USB標準需求的矽元件
太克發表TekExpress相容性測試自動化平台系統 (2008.03.18)
Tektronix發表全新TekExpress相容性測試自動化平台系統,以及全新TekExpress SATA自動化相容性測試軟體。在TekExpress平台系統上執行的TekExpress SATA,運用經過核可的Tektronix串列資料效能儀器套件,使必要的接收器、發射器和相互連接的SATA Gen-1和SATA Gen-2相容性測試達100%自動化


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