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CTIMES / 自動測試設備
科技
典故
攀上傳輸頂巔──介紹幾個數位顯示介面標準

當傳輸技術進入數位時代之後,使用者及廠商對於數位顯示的品質要求越來越注重,結合顯示卡硬體的數位顯示介面標準,其發展進度因而更受到矚目。
筑波與Teradyne攜手打造客製化半導體測試方案 (2023.02.13)
因應全球消費性產品及電動汽車(EV)高功率、高電流測試需求,第三類半導體—氮化鎵(GaN)與碳化矽(SiC)材料為新主流。在供應鏈中每個元件的品質把關都是關鍵,製程測試準確度足以影響整體PMIC,筑波科技與美商Teradyne攜手合作推廣Eagle Test Systems(ETS),滿足客戶客製化需求
波士頓半導體整合全方位ATE服務 (2014.10.09)
波士頓半導體設備公司(BSE)宣布該公司已經將所有自動測試設備(ATE)事業整合至波士頓半導體設備品牌之下。即日起,Test Advantage Hardware和MVTS Technologies將以波士頓半導體設備之名稱營運
Teradyne推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統 (2008.04.22)
Teradyne宣布推出最新的D750Ex LCD 驅動IC測試系統(D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。奇景光電(Himax Technologies Limited)為位於台灣的無晶圓驅動IC設計廠商,採用此系統測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC

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